表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』
試料表面のパーティクルを簡単・迅速に測定可能！
『Pentagon Technologies社製 QIII』は、わずか数秒で試料表面のパーティクルを検出/測定可能な装置です。 試料表面上のパーティクルを簡単・迅速に測定でき、クリーニングの手順と基準を定量的に 規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認や各種製造装置のクリーン 維持管理に適しています。 また、「QIII SM / QIII ST 」は、昨今のクリーン環境で 使用する為の、ペンタゴン社独自技術が備わっております。 【特長】 ■数秒で試料表面のパーティクル（0.1um～）を検出/計測 ■7インチ高解像度WVGAのスクリーンがもたらす、きれいではっきりした画面表示 ■計測したデータは、直接USBポート経由で、簡単にダウンロード可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社エムアイティ
- 価格：応相談
