【事例】導通ＯＰＥＮモニタリングシステム
落下衝撃試験等に最適！機械的ストレスの瞬間をモニタリングします！
・落下衝撃試験等、一定周期で発生する機械的ストレスに対し、電子部品の導通経路で電気抵抗が高くなる、もしくはOPNEとなる瞬間をモニタリングできるシステム。 ・衝撃信号（加速度等）のトリガ情報を基点に前後一定期間を10msec間抵抗値データを1μsec間隔で集録（10000point）。 ・管理規格との比較で、各chのピ－ク抵抗値が管理値を超えるとイベント信号を発生することができる。 ・保存した情報は、集録中/集録後に関わらず、Viewer機能により再読み出し可能。又、ピーク抵抗値等の結果はテキストデータとして抽出可能。
- 企業：株式会社Wave Technology
- 価格：応相談
