半導体耐久試験機×株式会社アイテス - メーカー・企業と製品の一覧

半導体耐久試験機の製品一覧

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ディスクリート半導体のIOL試験

小型のディスクリート半導体を対象としたIOL試験やパワーサイクル試験に対応!

当社で行っている「ディスクリート半導体のIOL試験」について ご紹介いたします。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。 通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。 【調整条件】 ■上昇温度:125℃ ■加熱時間:5分 ■冷却時間:5分 ■ファンの駆動時間:2分 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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