1～4 件を表示 ／ 全 4 件
NDT(非破壊検査)用のX線検出器としてもご使用いただくことが可能です！
当社で取り扱う、X-Spectrum社の主力検出器『LAMBDA(ラムダ)』の 「NDT(非破壊検査)での使用」についてご紹介いたします。 バッテリー、電子部品、PCBなどの製造工程に用いて、部品の 欠損・欠陥の早期発見に役立ちます。 また、特に目視では発見することができない、小さい欠損や コンポーネント内部の欠損の発見に役立てることができます。 【使用概要】 ■ご使用方法：メソッド X線CTスキャン ・対象物に対して照射されたX線の計測 ・対象物 or 検出器を回転させ3Dデータの取得 ■分解能 ・～10μm(高速スキャン時) ・＜1μm(低速スキャン時) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
検出サイズ12cm x 6cm、ピクセルサイズ50μm、X線耐圧225kV フラットパネル検出器
『1206HR CMOS X-ray Detector』は、ピクセルサイズが50μmで、高解像度のCsIまたはGadoxシンチレータを備えた、前臨床、理化学、および工業用途 向けに特別に設計された高解像度動的X線検出器です。 フル解像度で最大59fpsのフレームレート。 14ビットのデジタル出力と、高ダイナミックレンジモードまたは低線量のリアルタイムイメージングに最適な高感度モードの2つのゲインモードを備えています。 インターフェースは、USB3、イーサネット、カメラリンクから選べます。 【特長】 ■イメージラグを最小限に抑えた高速、低ノイズイメージング ■CMOSセンサーを光ファイバープレート(FOP)に接着し、X線耐性を確保 ■高感度・高ダイナミックレンジの2つのモード ■高速で任意選択可能な関心領域 ■高解像度/高感度CsIシンチレータ、またはGadoxシンチレータの選択 ■迅速な開発推進のためにWindows SDKを提供 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
検出サイズ14cm x 12cm、ピクセルサイズ100μm、X線耐圧225kV フラットパネル検出器
『1412HS CMOS X-ray Detector』は、電子基板検査、工業用非破壊検査、 理化学機器アプリケーション向けに特別に設計された動的X線検出器です。 フル解像度で120fpsのフレームレート。 ピクセルサイズは100μmで、高感度または高効率のCsIシンチレータ オプションがあります。コーンビームCTや透視検査に最適。 当製品には、先進のCMOSセンサーを使用しており、14ビットのデジタル出力と、高ダイナミックレンジモードと高感度モードの2つのゲインモードを備えています。 インターフェースは、イーサネット、カメラリンクから選べます。 【特長】 ■イメージラグを最小限に抑えた高速、低ノイズイメージング ■CMOSセンサーを光ファイバープレート(FOP)に接着 ■高感度・高ダイナミックレンジの2つのモード ■パノラミックイメージングのための高速で任意選択可能な関心領域 ■高解像度/高感度CsIシンチレータ、またはGadoxシンチレータの選択 ■迅速な開発推進のためにWindows SDKを提供
検出サイズ16cm x 15cm、ピクセルサイズ100μm、X線耐圧120kV フラットパネル検出器
『1615HS CMOS X-ray Detector』は、ピクセルサイズが100μmで、高効率の CsIまたはGadoxシンチレータを選択できる、前臨床、臨床、および工業用 アプリケーション向けに設計された動的X線検出器です。 革新的なセンサーデザインにより、最大100fpsおよび関心領域設定により それ以上の高速フレームレートの設定が可能。 センサーは、画像品質を向上させ、装置の放射線耐性を高めるために、 光ファイバープレート(FOP)で保護されています。 インターフェースは、イーサネットです。 【特長】 ■イメージラグを最小限に抑えた高速、低ノイズイメージング ■CMOSセンサーを光ファイバープレート(FOP)に接着し、X線耐性を確保 ■高感度・高ダイナミックレンジの2つのモード ■パノラミックイメージングのための高速で任意選択可能な関心領域 ■高感度CsIまたはGadoxシンチレータの選択 ■迅速な開発推進のためにWindows SDKを提供
