回転落下試験機『TD-1000A』
携帯電話などの情報端末機器をはじめ、電子部品、機構部品、各種材料の評価に最適。
JISC 0044に準拠 ※落下高さは1000mmの他に500mmと300mmを標準で用意。
- 企業:新栄電子計測器株式会社
- 価格:応相談
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携帯電話などの情報端末機器をはじめ、電子部品、機構部品、各種材料の評価に最適。
JISC 0044に準拠 ※落下高さは1000mmの他に500mmと300mmを標準で用意。
製品の挙動や緩衝包装のひずみなどを最大1/2000秒で撮影して動画による目視確認をする事も可能です
『JIS Z 0202(落下試験方法)』は金属、木材、段ボール、板紙、プラスチックまたはこれらの組み合わせからなる包装貨物及び容器について適正であるか否かを評価する為の試験方法です。 試験方法は自由落下試験機による「垂直自由落下試験」、等価落下試験機による「等価落下試験」、クレーンによる「片支持りょう落下試験」の3通りあります。 試験レベルや試験条件についてはJIS Z 0200試験方法一般通則を参照の上 選定して包装後の質量に応じた落下高さより落下試験を行います。 試験をご希望の際は、ぜひ当社へご相談下さい。 【落下試験方法】 ◇垂直自由落下試験 ◇等価落下試験 ◇片支持りょう落下試験 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
製品の剛性または安全性を評価可能!箱の面、角、辺の自由落下衝撃試験を行えます!
『QC-113A』は包装資材が運送中に与えられた落下衝撃力を測定する 落下試験機です。 包装資材の包装具合、耐振動能力、内容物などの落下衝撃後の状態を評価し、 試験結果より、包装資材の安全性や製品本体の耐衝撃性を評価可能。 また、同じサンプルを同じ自由落下させ、落下時の硬質表面が受けた衝撃を シミュレーションし、製品の剛性または安全性を評価することができます。 【対応する試験規格】 ■ASTM 5276 ■GB/T 4857.5 ■CNS 2999 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
使用中又は修理作業中に粗雑な取扱いで発生する打撃,急激な動揺及び落下によって機器が受ける影響を再現する試験方法について規定する
JIS C 60068-2-31(落下試験及び転倒試験)の概要: ・この規格は2008年に第2版として発行されたIEC 60068-2-31を基に技術的内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格です。 ・この規格は使用中又は修理作業中に粗雑な取扱いで発生するような打撃、急激な動揺及び落下によって機器及びその附属品ユニット(以下、機器等といいます。)が受ける影響を再現する試験方法について規定します。 ・この試験方法は例えば小型から中型までの大きさの機器等で粗雑な取扱いを受けやすいものだけに対してそれらの製品規格で規定し、またこのような取扱いを受けるおそれがある機器等の面及び角だけに適用することが望ましい。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
規定の高さや方向から試験体を落とし、損傷の有無や保護性能を確認!
落下試験は、輸送や取り扱い時の衝撃に対する包装の耐久性を 評価する試験です。 規定の高さや方向から試験体を落とし、損傷の有無や保護性能を確認。 JIS、ISO、ASTM、などの規格に基づいて実施されます。 手荷役を想定した場合、包装貨物を一定の高さから自由に落とす 「自由落下試験」や、落下高さと等価な衝撃を機械的に印可する 「等価落下試験」があります。 【落下試験機】 ■自由落下試験機 ■懸垂式落下試験機 ■等価落下試験機1 ■等価落下試験機2 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。