フラットフィルム欠点検査措置
一つの波長だけでは見えずらい欠点も完全に検知可能なフラットフィルム欠点検査措置
当社では、Dr.Schenk社製(ドイツ)の『フラットフィルム欠点検査措置』を 取り扱っております。 明視・暗視光源の高速スイッチング技術にて最大5チャンネルにて同一欠点を 別光源からみた画像で取得ができ、一つの波長だけでは見えずらい欠点も 完全に検知可能。 これにより、高い欠点分類能力を達成する事ができ、Critical Defect、 Marginal、Negligibleの判別もできます。 【特長】 ■Dr.Schenk社製(ドイツ) ■最大5チャンネルにて同一欠点を別光源からみた画像を取得 ■一つの波長だけでは見えずらい欠点も完全に検知可能 ■独自の高輝度LED光源により欠点検知において高いS/N比にて検知可能 ■膜厚、ヘイズ等の膜質観察も可能(ソフトウェアオプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：CBC株式会社
- 価格：応相談
