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不具合を的確に把握！広範囲の一括観察や部分拡大も可能で、様々な観察に対応します
検査員の目視だけでは、見逃す形状を鮮明に観察することによって、 不具合を的確に把握することができます。 広範囲の一括観察や部分拡大も可能、様々な観察に対応いたします。 また、IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に 則って観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応できます。 【特長】 ■広範囲の一括観察や部分拡大も可能 ■様々な観察に対応 ■全面観察後、箇所に関係なく鮮明な拡大観察が可能 ■予定外箇所の追加観察も容易 ■IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
信頼性試験から観察、3次元測長まで支援！輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能
鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生する 金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを 観察するとともに、3次元測長を行い、ウィスカ成長を評価します。 信頼性試験グループと組むことで、迅速かつ輸送リスクを排除した ウィスカ評価の実施が可能です。 【特長】 ■信頼性試験から観察、3次元測長まで支援 ■深度合成機能を持つデジタルマイクロスコープによりウィスカを観察 ■迅速かつ輸送リスクを排除したウィスカ評価の実施が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができます！
ダイヤモンドの品質は4C(カット、カラー、カラット、クラリティ)で 決まります。クラリティとは、インクルージョン(内包物)やキズの程度を 表すそうです。 気になるクラリティをマイクロスコープで覗いてみましたのでご紹介します。 一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電子部品やシリコンチップなどの検査、観察も実施 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
