テストハンドラ
次世代、 斬新で使いやすいデバイス・ハンドリング・システム
【システムの主な特長】 ・信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム ・アクティブ・サーマル・コントロール・システム（ATC）による-60 °C～+175 °C（-76°F～+347°F）のデバイス試験温度 ・低温/高温試験用 → 3温度試験 ・ユーザーの操作なしに、異なる試験温度で複数の試験サイクルを実施可能 ・エスモ不死鳥カートとの組み合わせにより、市場で最も小さいテストセル設置面積を実現 ・キットレス・テストハンドラーまたはカスタマイズされたハンドリングシステム。 ・個々の要件と用途に応じたモジュラーシステム構成 ・簡単に移動でき、設置面積が小さい ・すべてのテスターに対応する標準ドッキングインターフェース ・イーサネット経由のリモートコントロール ・高いMTBF値、少ないメンテナンス労力
- 企業：ウェーブクレスト株式会社
- 価格：応相談
