DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト
シグナルインテグリティー条件の解析に要する時間を大幅に短縮！
コンプライアンステストは、ダイナミック・ランダム・アクセス・ メモリ（DRAM）信号のタイミング、スルーレート、電圧レベルが 仕様に適合していることを確認する上で不可欠です。 アイダイアグラム・テストを利用してシグナルインテグリティー条件の 解析に要する時間を大幅に短縮することで、信号品質をすばやく 検査することができます。 以下のような課題を『DDR3データ・アイ・ダイアグラム・テスト』 により解決します。 【課題】 ■シグナルインテグリティーの問題をすばやくデバッグできる柔軟性がない ■リード／ライトの分離が必要 ■シンプルなマスクに基づいてテストを行うためのデータバースト内での 連続ビットの重ね合わせ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社
- 価格：応相談
