走査型電子顕微鏡－エネルギー分散型X線分析（SEM-EDX）
光学顕微鏡では観察できない微小な表面構造を鮮明に観察。観察領域の元素分析や元素マッピング測定も可能です！
SEM-EDXとは、試料の表面に電子線を照射し、反射（発生）した電子を検出器で捕捉して像を観察する装置です。 光学顕微鏡では観察できない微小な表面構造を鮮明に観察することができます。 付属の元素分析用X線検出器により、観察領域の元素分析や元素マッピング測定も可能です。
- 企業：日鉄環境株式会社 分析ソリューション事業部・営業部
- 価格：応相談
