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31～45 item / All 70 items
5℃/1分の急速昇降温を実現、ＭＩＬ-ＳＴＤ-781スペックに完全対応
急速昇降温型・低温恒温器 MLシリーズは、試験温度範囲は-70℃～＋180℃と広範囲で、昇温降温性能は＋85℃～-55℃で５℃／１分のスペックを達成しました。 計装部には最新鋭TX計装を搭載、チャンバー内壁及び外装はステンレス鋼板を使用しており、シリコンゴム栓付きケーブル孔を１ケ所、温度記録計、キャスター・アジャスターを標準装備しております。 ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
"もっと"見やすくの"もっと"に応えました！シースルードア！
シースルー型・低温恒温（恒湿）器 SLシリーズは、特殊強化ガラスを３重に積層､ガラス内面に熱反射フィルムを２面に貼付ました。 熱反射フィルムは、ガラス面からの熱損失を防ぎ､試験槽内の温度分布への影響を最小限に抑えます。 熱反射フィルムは、防曇効果も発揮します。熱線ヒーターの細い線もなく､視認障害物は何もありません。 ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
三層複層ガラスドアで快適ワイドビュー、椅子に座ってグローブ操作も可能！
電子機器などの環境試験では試験準備に試料の加工作業をすることが多く、また試験中にも観察する、調整するなどの作業があり、立ったままの姿勢では無理がありました。これに加えてパソコンなどの測定機器も同一テーブル面に配置した方が使いやすくなるはずです。 そこでシースルードア型・低温恒温（恒湿）器 ORENOは、作業性を良くする視点から従来の箱型試験器を見直し、デスク型にウィングテーブルを組合わせた製品になりました。グローブ孔付き三層複層ガラス扉を採用し、扉開放時にはウィングテーブルと一体となる広い作業スペースが従来に無い使用感につながりました。 ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。
撮影用途向けのポータブルな分光色彩照度計。撮影用途向けの機能を有し、CRIやTLCI、SSI等の最新の演色評価指数を測定可能！
C-800はハンディタイプで現場に持ち運び可能な分光方式カラーメーター（分光色彩照度計）です。フラッシュ光やLED光をはじめとする様々な光源のスペクトル測定が可能で、撮影用途に適した測定項目と表示モードを搭載しています。受光部の回転機構やキャップなしでのダーク補正機構、4.3インチの大型タッチパネルでの操作等、ユーザーが使いやすい製品デザインを追求しています。 ● JIS 一般形A級照度計に準拠 ●「照度」「色温度」「スペクトル」等が測定可能 ●「色度（xy, Hue, Saturation）」の表示に対応 ●演色評価モードは従来のCRIに加えて最新の規格にも対応 （CRI、TM-30-18、TLCI/TLMF、SSI) ●フィルター補正や多灯比較モード等、撮影用途に適した測定項目と表示モードを搭載 ●校正証明書（校正証明書・検査成績書、トレーサビリティ系統図）の発行が可能 ●日本製 【デモ機無料貸出し】 ご興味のある方はデモ機の貸出しも可能ですのでお気軽にお問合せください。
様々なテストに対応できる評価試験用ブース
製品の開発スピードと信頼性向上のために、従来は外注していた各種評価試験を社内で行うようにしたい。そのために新たに評価試験用ブースを設置したいが、設置スペース、コストの制約もあるので、全てのテストに対応できる仕様にしたい。 ・検査室として、清浄度管理（クラス1000）、温湿度管理が必要。 ・試験項目として菌試験、VOC試験を行う。 問題点 1. 菌試験時に菌が外部に漏洩しないよう封じ込め対策を行わなければならない。 2. 菌試験の厳密性を確保するために、試験時に温度、湿度の管理を適切に行わなければならない。 3. VOC試験を行うためには、試験室内のVOC濃度が規定値以下にコントロールされていなければならない。 4. VOC試験後、VOCが試験室内に残留しないように適切に排気しなければならない。
研磨作業初心者から熟練者までに評価されるシンプルな構造の手動式研磨機
『SCANDIMATIC 33035』は、 ドイツScandia社伝統の粗、仕上げ用手動方式の研磨機です。 回転数は1rpm毎に設定可能。 研磨作業初心者から熟練者までに評価されるシンプルな構造です。 そのほか、仕上げ用自動研磨機「SCANDIMATIC 33305」もご用意しています。 ～只今、期間限定キャンペーン（※2019年3月末まで）を開催中～ 『SCANDIMATIC 33035』：特別セット価格￥726,000（税別） 『SCANDIMATIC 33305』：特別セット価格￥984,000（税別） 【特長】 ■シンプルな研磨機 ■試料を手で支えながら試料を研磨 ■回転数はデジタル表示 ■回転数は1rpm毎に設定可能 40-600rpm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高い高度における低圧環境を想定した高度試験・減圧試験が実施可能です。
・高度・減圧試験は、航空機による輸送や高地輸送における低気圧ハザードに対する電子機器類、機構部品、包装貨物などを評価をするための試験です。 ・包装貨物の評価試験においては、例えば貨物室が与圧されていない小型飛行機による輸送や、標高が3,000mを超えるような 山越えのトラック輸送が想定される場合に、包装のシール性などを評価するために実施されます。 ・参考までに、電子機器類や気候部品の評価試験においては、常圧封止した機器からのガスや液体漏れ、高電圧回路の機能低下や絶縁不良などを評価するために実施されます。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
弊社では、環境試験ー温湿度組合わせ（サイクル）試験 及び、お客様ご指定条件による温湿度試験を実施します
１．JIS C 60068-2-38 試験の概要： ・ JIS C 60068-2-38 では高温高湿及び低温条件で主として電気・電子部品の劣化を加速した方法で判定する温湿度組合わせ（サイクル）試験を規定しており供試品の欠陥を水分の吸収によって発生させるのではなく呼吸作用によって発生させることを目的とした温湿度サイクル試験方法です。 ・この試験は他の温湿度サイクル試験とは異なり以下の通り試験の厳しさを強めています： ◇規定時間内での温度上下回数が多い ◇温度変化の範囲が広い ◇温度変化の速度が速い ◇0度以下の温度サイクルを含んでいる ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
海外製部品・製品の中には品質上問題のあるものも含まれています。これらに対して信頼性試験・評価試験の品質評価サービスを提供します。
海外製部品・製品の中には、初期動作は問題なくても、 短期間に不具合を引き起こし、故障破壊に至るものもあります。 海外製品を採用・使用される前に、アイテスの 部品・製品 品質評価サービスをご検討下さい。 ■海外製部品評価例 ・部品調達・選定段階での信頼性評価 ・部品・製品メーカー間比較評価 ・現行部品⇒変更部品（コスト削減）の置き換え時の信頼性評価 ■対応部品の例 ・能動部品（トランジスタ、ダイオード、サイリスタ、等） ・受動部品（コンデンサ、抵抗、等） ・LCD ・基板 ・電源 等
印加ピンの接触確認機能により確実に印加！直接チャージ法と電界誘導法にも対応
『ESD(CDM)試験受託サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なデバイス帯電モデルのESDによる 破壊に対する耐性を評価します。 直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応。 また、ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も 可能です。(別装置を使用) 【特長】 ■各種規格条件JEDEC、JEITA(EIAJも可)、AECに対してユニット交換で対応 ■直接チャージ法(Direct CDM)、電界誘導法(Field Induced CDM)の両方に対応 ■AEC-Q100-011の直接チャージ法と電界誘導法にも対応 ■ダイオード特性判定法、その他の特性評価による、破壊判定も対応可能 ■印加ピンの接触確認機能により確実に印加 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
DUTボード作製から試験まで！ご要望や目的に応じた試験をご提案、実施致します
『ESD(HBM・MM)試験サービス』は、半導体製品およびそれを含む 電子部品の信頼性として重要なHuman Body ModelとMachine Modelの ESDによる破壊に対する耐性を評価します。 512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応。 ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を 実施します。また、耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の 問題解決のお手伝いをします。 【特長】 ■512ピンまでのICモジュール、半導体製品、サブシステム等の製品に対応 ■512ピン以上の製品についても一部対応(要相談) ■ESDA/JEDEC、JEITA、AEC、IEC等の国内外の主要規格に対応した試験を実施 ■お客様のご要望や目的に応じた試験をご提案、実施 ■耐性に問題があった場合、故障解析/原因究明等の問題解決をお手伝い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも！
株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法：W650×H460×D370mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W650×H460×D670mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ■内法：W970×H460×D670mm 温度範囲：-65～0/+60～200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です！
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1H NMR,13C NMR、及びDEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介！
株式会社アイテスでは「液晶化合物のNMR分析」を行っております。 NMRは、分子を構成する原子どうしのつながりが分かる分析手法であり、 質量分析や赤外分光法などと共に、化合物の構造決定に用いられます。 ダウンロード資料では、液晶成分として使用される4-ブトキシ-4’- シアノビフェニル(CAS番号52709-87-2)の1H NMR,13C NMR、及び DEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【測定例】 ■1H NMR測定 ■13C NMR測定及びDEPT測定 ■その他のNMR測定手法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
多機種で研究目的、 設置スペースに合わせて選べます。
ソフトな温・冷風の循環で最適な培養条件が得られます 【特長】 〇 温度は＋ 5℃～＋ 50℃で広範囲の温度が自在に制御できます。 〇内部天井部に冷却器、底面に加熱器が付き、送風循環ファンにより、内部の温度をムラなく攪拌致します。 〇本機の温度制御システムは、3 位置制御システムで、ヒータ、クーラーが同時に作動しない省電力方式です。 〇LP-190/300F（-CT）はガラス扉で内部が透視できます。LP-190/300F- □ 4（-CT）は遮光扉となります。 〇照明は植物育成用蛍光灯型LED「プラントフレック」、疑似太陽光「SUNRAYLIGHT」からお選びいただます。 ※詳しくは、お問い合わせください！
