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JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じ、様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価試験を承ります。
■高度加速寿命試験 5台 ■冷熱衝撃試験 24台 ■恒温恒湿試験 22台 ■液槽冷熱衝撃試験 3台 ■高温保存試験 ■耐ホットオイル評価試験 ■絶縁抵抗連続モニター評価 ■導通抵抗連続モニター評価 ■エレクトロマイグレーション連続モニター評価 ■マイクロフォーカスX線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■ESD評価試験 ■CDM評価試験 ■万能引張評価試験 ■断面（研磨）観察サービス（環境試験前後の評価も可能です） ■太陽電池（結晶シリコン/アモルファスシリコン/化合物/有機薄膜など）EL発光現象 ■発熱観察
イオンマイグレーション評価の概略及び試験実施内容を掲載しています！
信頼性評価手法の1つであるイオンマイグレーション評価試験は、製品の 軽短小への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。 当資料では、当社での評価試験の一例を使用してイオンマイグレーション評価の 概略及び試験実施内容を掲載。 評価試験において使用している常時測定(In-Situ)装置の有用性についても ご紹介します。 【掲載内容】 ■はじめに ■イオンマイグレーション ■イオンマイグレーション評価試験 ■評価方法 ■評価試験事例 ■むすび ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワーサイクル試験装置を使用したパワーサイクル試験の受託！故障解析・分析と合わせ品質向上に協力致します
株式会社アイテスでは、シーメンス製（メンター製）のパワーサイクル 試験装置を使用した、パワーサイクル試験の受託を行っています。 試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能です。 また、パワーデバイスの各種観察・測定にも対応しています。 パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができます。 【特長】 ■試験に必要な各種治具の作成から対応する事も可能 ■パワーデバイスの各種観察・測定にも対応 ■パワーサイクル試験などの試験前後の変化を捉えることができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析！
アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価 ■構造解析（出来栄え・他社品RE）■故障解析（故障箇所特定、原因究明、改善提案） 【試験一覧】 ■パワーサイクル試験 ■液槽熱衝撃試験 ■ゲートバイアス試験 ■半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察 ■パワーチップの故障解析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
恒温恒湿試験前後の曇価測定、IR分析で素材の特性、分子構造変化が把握できます！
『信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニュー サービス』についてご紹介します。 プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があり、 透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、 劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。 当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や 「IR分析結果」を表とグラフを用いて解説。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■曇価（ヘーズ）測定結果 ■IR分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
保有する知⾒と豊富な装置で不具合、お困りごとを解決いたします！
製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が 鍵を握ることも少なくありません。 アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで 一貫対応いたします。 本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の 分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■恒温恒湿試験、および紫外線照射 （サンプル：ポリエチレン（PE）ペレット） ■IR、ラマン、およびEGA分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
常時モニタを用いることで変化点を確認可能！当社の信頼性試験をご紹介します
当社では、液槽冷熱衝撃試験において、LEDを常時通電点灯しながら試験ができ 試験中の点灯状態の確認や、電流値の常時モニターなどの評価に対応します。 液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽より温度変化が急峻。 絶縁性の高い液体を使用しているため通電試験が可能で、試験中のLEDの 点灯状態の確認や、電圧(電流)をモニターすることで、特性の変化点が 確認できます。 【特長】 ■LEDを常時通電点灯しながら試験が可能 ■液槽は液体を媒体に温度ストレスを与え、気槽より温度変化が急峻 ■絶縁性の高い液体を使用しているため通電試験が可能 ■特性の変化点が確認できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できます！
ランプ加熱試験（赤外線照射試験）についてご紹介します。 環境試験槽に試験試料を設置し送風状態で雰囲気温度を制御しながら、 赤外線ランプを最大7個使用し光を照射することで、試料表面の温度センサー の温度が雰囲気温度より高くなるように制御を行います。 例えば、昼間の高温になった車内において、太陽光により雰囲気温度より さらに過熱されるストレスを模擬する事ができます。 【特長】 ■環境試験槽内で送風環境下における赤外線照射試験に対応可能 ■雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Pbフリーはんだ実装品を3種の信頼性試験に投入！各試験の主な目的と断面観察結果をご紹介
当社が行った、信頼性試験後のPbフリーはんだ断面観察についてご紹介いたします。 Pbフリーはんだ実装品(Sn/Ag/Cu合金はんだ)を3種の信頼性試験に投入。 初期品と試験後品を比較しクラックの発生有無及び金属間化合物層の 成長具合を確認しました。 クラック進展の経過観察などではんだ接合部の耐久性を段階的に確認するには、 サイクル数ごとに取出して断面観察が行えるTC試験がお勧めです。 【試験条件】 (1) TC試験(温度サイクル) 125℃20分/-40℃20分/1000cyc (2) HT試験(高温放置) 150℃/1000時間 (3) TH試験(温度湿度) 85℃/85%rh/1000時間 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ドライエアにより湿度30％未満を実現！CDM試験における主要規格の湿度要求や仕様についてご紹介
ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014において、試験時のデバイス付近の相対湿度は 30％未満にすることを要求されています。 確認方法は、サンプル設置近傍の2ヶ所に温湿度センサーを設置して温度・ 湿度を常時モニターし、相対湿度が30％未満となった時点で試験開始。 AEC規格においても2019年の改訂でANSI/ESDA/JEDEC JS-002に準拠すると明記され、 低湿度環境の要求は今後も高まってくると見込まれます。 【CDM試験の主要規格の湿度要求】 ■ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018：相対湿度30％未満 ■AEC-Q100-011 Rev-D・AEC-Q101-005 Rev-A：相対湿度30％未満 ■JEITA ED-4701/302A(試験方法305D)：周囲温度25℃±5℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
不良基準（電流値）の設定が可能！高温及び高電圧通電によりデバイス劣化及び特性等を評価
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【特長】 ■試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムで デバイスの劣化状況が把握出来る ■電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼさない ■不良判定デバイスの電源を不良判定時に遮断することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
規定圧力の圧縮エアーを送り込み定時間保持！漏れが発生していないかを確認
『加圧繰り返し試験』は、気密性を要求される製品に対して、圧縮エアーを 既定圧力で送り込み、漏れが発生しないか確認します。 加圧⇔解放状態を繰り返す耐久試験を行うこともでき、 環境試験槽との組み合わせで加温状態で実施することも可能。 また、圧力データのログから漏れが発生したタイミングを 確認することができます。 【装置仕様】 ■加圧圧力：Max0.7MPa(ゲージ圧) ■繰り返しサイクル数：Max32000サイクル ■圧力保持時間：Max3000秒 ■モニター：試験中の圧力センサの値(ゲージ圧)の記録 ■試験品との接続：エアーチューブ(接続方法は試験品に合わせて対応) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験基板の設計や作製から対応！複数の製品の実力を比較する有効な手法
当社の『積層セラミックコンデンサ連続通電試験』をご紹介します。 故障モードをショート(短絡)と仮定して高温・高湿の環境下で直流電圧 を連続通電しながら漏れ電流の変化を常時測定で把握する高温・高湿 連続通電試験が可能。 メーカー別、ロット別等の複数の製品の実力を比較する有効な手法の一つと 考えます。また、試験基板の設計や作製から対応いたします。 【特長】 ■必要に応じて、デバイス実装用基板の設計から実施 ■0603・1005等のサイズも対応可 ■モニタリング装置は抵抗ボード経由でサンプルと接続しリーク電流値換算 ■試験後には容量測定を実施し容量劣化の程度を確認することも可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小型のディスクリート半導体を対象としたIOL試験やパワーサイクル試験に対応！
当社で行っている「ディスクリート半導体のIOL試験」について ご紹介いたします。 常温環境下にて通電ON/OFFを繰り返し行い、通電時のデバイス自身の発熱により 温度変化によるストレスをデバイスに加えます。 通電OFF時(冷却時)はファンによる強制冷却も行います。 【調整条件】 ■上昇温度：125℃ ■加熱時間：5分 ■冷却時間：5分 ■ファンの駆動時間：2分 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
ゴムなどの材料の熱老化試験、湿熱劣化試験などの各種試験に対応可能！
当社では、実使用環境における材料の特性を評価することに役立つ「ゴム熱 老化試験」を行っております。 JIS K6257(加硫ゴム及び熱可塑性ゴム熱老化特性の求め方)に準拠した 手法でギアーオーブン内にゴム試験片を吊るし、熱処理時間を変えた試験片 を作製。 また、加熱した天然ゴム(NR)を引張試験を行って機械物性の変化を調べ、 同時に硬さを測定。ゴムとしての特性の変化も調べ、加熱に伴いゴム弾性が 失われ、硬くなる様子が確認されました。 【物性評価】 ■加熱温度：120℃ 引張試験：万能材料試験機 ■硬さ測定：マイクロゴム硬度計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
