TEMによる電子部品・材料の解析
TEM（透過型電子顕微鏡）は電子部品の故障部位観察、長さ測定、元素分析、結晶構造の解析等や材料評価の幅広い要求にお応えします。
TEMは高倍観察のみならず、EDS、EELSによる元素分析、 あるいは電子線回折による結晶構造、面方位、格子定数等の 解析を行う事ができます。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
解析(tem) - メーカー・企業と製品の一覧
更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
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解析の製品一覧
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パワーデバイスの故障解析
ダイオード、MOS-FET、IGBT等のパワーデバイスの不良箇所特定・観察を行います。
あらゆるサイズ・形状のダイオード・MOS FET・IGBT等の パワーデバイスに対し最適な前処理を行い 裏面IR-OBIRCH解析や裏面発光解析により不良箇所を特定し観察いたします。 ■解析の前処理－裏面研磨－ 各種サンプル形態に対応します。 Siチップサイズ：200um～15mm角 ■不良箇所特定－裏面IR-OBIRCH解析・裏面エミッション解析－ IR-OBIRCH解析：～100mA/10V ～100uA/25V まで対応 エミッション解析：～2kV まで対応 ＊低抵抗ショート、微小リーク、高電圧耐圧不良など幅広い不良特性に対応 ■リーク箇所のピンポイント断面観察－SEM・TEM－ 予測される不良に合わせてSEM観察・TEM観察を選択し リーク不良箇所をピンポイントで物理観察/元素分析を実施可能
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
信頼性試験によるスペック確認と故障解析
独自の前処理加工技術により様々な状態のサンプルに対して解析を実施可能！
当社では、信頼性試験から故障解析までの一貫した解析を行っております。 それにより、サンプルが規格を満たしているか確認すると共に、 Failしたサンプルの不良箇所の特定及び観察をする事が可能。 お客様のご要望、目的に応じた試験や解析をご提案、実施し、 原因究明～問題解決までのお手伝いをいたします。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【解析の流れ】 ■信頼性試験による半導体素子のスペック確認 ■不良箇所特定～TEMによる故障箇所の観察 ・EMS/OBIRCH解析による不良箇所特定 ・TEMによる故障箇所の観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
SiCデバイスの裏面発光解析
SiCデバイスの前加工→リーク箇所特定→物理解析/成分分析までスルー対応！
当社では、『SiCデバイスの裏⾯発光解析』を行っております。 SiCは従来のSi半導体と比べ、エネルギーロスの少ない パワーデバイスであり注目を集めていますが、Si半導体とは 物性が異なるため、故障解析も新たな手法が必要となります。 SiC MOSFET裏面発光解析事例では、海外製SiC MOSFETをESDにより、 G-（D,S）間リークを作製、発光解析にて、リーク箇所を示す多数の 発光を検出。 発光箇所をTEM観察したところ、SiO2膜の破壊、SiC結晶にダメージが 認められました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
ICの不良解析
不良モードに適した様々な手法を組み合わせることで、不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応
株式会社アイテスの『ICの不良解析』についてご紹介します。 当社では、ICに対して、不良モードに適した手法を組み合わせることで、 不良ノードの特定から物理解析までを一貫して対応致します。 Layout Viewerによるレイアウト確認が可能な「発光解析/OBIRCH解析」を はじめ、「層剥離/サンプル加工」や「PVC解析」、「拡散層エッチング」、 「sMIM解析」等、様々な解析手法があります。 【手法】 ■発光解析/OBIRCH解析 ■層剥離/サンプル加工 ■マイクロプローブ ■PVC解析 ■EBAC解析 ■物理解析（FIB-SEM, TEM） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
パワー半導体の解析サービス
故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします！
株式会社アイテスでは、パワー半導体の解析サービスを承っております。 当社は日本IBM野洲事業所の品質保証部門から1993年に分離独立して以来、 独自の分析・解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
R&S RTO/RTEによるEMI解析
不要な放射を捕捉し分析するための重要な機能を実装。
R&S RTO/RTE デジタル・オシロスコープは、電子設計におけるEMI問題を 分析する貴重なツールです。 高入力感度、高ダイナミックレンジ、強力なFFT実装は、不要な放射を捕捉し 分析するための重要な機能です。 【アプリケーション】 ■簡単セットアップ ■広い捕捉帯域幅と周波数領域での分かりやすいナビゲーション ■スペクトルコンポーネントの色分けされた表示による、 オーバーラップFFTの実装 ■相関時間 - 周波数解析のためのゲートFFT ■周波数マスクを使用した散発的なイベントの捕捉 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社
- 価格：応相談
FEM（有限要素法）受託解析サービス
ベンカン機工ではFEM解析（Finite Element Method：有限要素法）による強度解析等のサービスをお受けいたします
ベンカン機工で取り扱っている各種プロセス向けの特殊継手は、一般的に使用、販売されている管継手以上に様々な仕様が要求されます。特に耐圧性能は高圧下での管継手の挙動と安全を確保するための大切な性能となります。耐圧性能は，管継手の形状・寸法の適正化により確保され、その設計手法の一つにFEM解析が使用されています。 このサービスは、以下の主な内容になります。 ・FEM解析を用いた管継手等の配管部材の設計サポート ▻ 特殊形状の管継手設計(高圧環境、鋳物製配管部材からのリプレース 等) ▻ 既設管継手の耐圧性能評価 ▻ 特殊継手の製造(材料調達～製造～試験・検査～出荷までサポート) ・弊社保有技術と組み合わせることで様々な対応が可能です ご相談は、まず弊社営業担当または当社HPからのWebでのお問い合わせに対応いたします。 最初のお打合せより、弊社技術本部の専任担当者が対応いたしますので、直接ご要望事項を解析結果へ反映させることが可能です。 打合せ方式に関しましても、出向、ご来社の他、Web会議（Zoom，MS Teams等）にも対応可能です。お気軽にご相談ください。
- 企業：株式会社ベンカン機工
- 価格：応相談
カメラ1つで3D骨格解析「VisionPose Singe3D」
Unity、iOS/iPadOS、Androidに対応！マーカレスでお手軽モーションキャプチャが可能な姿勢推定AIエンジン
『VisionPose Single3D』はカメラ1台で3D座標を取得し、人の骨格情報をリアルタイムに検出する姿勢推定AIエンジンのSDK（ソフトウェア開発キット）です。 キャリブレーション不要で手軽にモーションキャプチャが可能。 2D画像から3D座標を推定する技術を利用し、2D座標で最大30キーポイント、3D座標で最大17キーポイントの骨格情報を検出します。 解析から得た骨格データは、用途やジャンルを問わず商用利用や研究・開発に利用できます。 ■特長 ・カメラ1台で3D座標を手軽に取得 ・Unity、iOS/iPadOS、Android対応 ・商用利用を含め、用途に制限無し ・すぐに使える２つのアプリを標準添付 └リアルタイム骨格可視化サンプルアプリ「BodyAndColor」 └動画＆静止画解析アプリ「VP Analyzer」※iOS/iPad版とAndroid版を除く ・追加学習が可能 ※追加学習はオプションです
- 企業：株式会社ネクストシステム 福岡本社
- 価格：10万円 ~ 50万円
ハードウェア付属で手軽に骨格解析「VisionPoseNano」
骨格情報の研究・検証に好適！ハードウェア付属で手軽に使える、姿勢推定AIエンジン
「VisionPose Nano」は、Webカメラのみで骨格情報を検出可能な姿勢推定 AIエンジンです。 体の各部位の関節(25箇所)と顔パーツ(5箇所)の合計30箇所の骨格情報 を2D座標で検出できます。また取得したデータはCSV形式で書き出すこと が可能です。書き出したデータを整形いただき、分析等にご利用ください。 ■特長 ・カメラ映像と動画・静止画で骨格検出が可能 ・ハードウェア付属でご提供。低価格＆省スペースを実現 ・面倒なセットアップやインストールの必要なし ・検出箇所は30キーポイント、簡単に骨格情報をCSV形式で書き出せる ■付属アプリケーション ・姿勢測定アプリ「PoseMeasure」 ・VP Analyzer ・BodyAndColor ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社ネクストシステム 福岡本社
- 価格：10万円 ~ 50万円
リアルタイム行動解析 「VP-Motion」
作業や機械の扱いを解析して作業効率化！ 転倒・事故を素早く検知！ 生産現場や、医療・介護など幅広いシーンで活用できます。
「VP-Motion」は、映像から得られる人物の骨格や画像情報を使って、人がどんな行動をしているかが解析できる、AIを搭載した行動解析システムです。 製造・生産工場などで働く作業者を解析する場合、ライン作業や機械の扱いを解析して作業の効率化に活用したり、または作業中の事故や転倒を素早く検知して、迅速な対応への活用といった用途にも利用出来ます。 VP-Motionはシステムに搭載されているAIに学習させることで、様々な解析が可能です。 生産現場などで、利用されるシーンの一例をご紹介します。 ■工場内の作業者の作業手順の誤りや作業ミスを検知したい ■部品の取付ミスを検知したい ■工場内で正しく指差呼称や、安全確認がされているか検知したい ■施設内の転倒者を検知したい ※ご購入後は、お客様ご自身で全ての運用が可能です。不安な点がある場合は様々な業務請負も対応しています。お気軽にご相談ください。
- 企業：株式会社ネクストシステム 福岡本社
- 価格：50万円 ~ 100万円
AIで高度な作業解析『VP-Motion』
動画を数本読ませるだけで学習可能！既存のIPカメラ等で映像解析ができます
VP-Motionは、検出したい行動や動作に名前（ラベル）をつけてAIに学習させることで、骨格や画像情報から行動パターンをリアルタイムで判別できる、学習機能付きAI行動解析システムです。検出したい行動を自由に設定できるので、様々な作業現場やニーズに即したシステムを低コストで構築、導入が可能です。 【製品の特長】 ・画像ベースの学習/解析を活用することで、人体以外の工具や部品などの物の判別が可能 ・数本の動画を読ませるだけで高速学習が可能 ・解析速度が速くリアルタイムでの解析が可能 ・学習した時のカメラアングルと異なる視点のカメラアングルであっても検出が可能 ・動画ベースの教師データ作成ツールと学習システムが標準で付属 お客様自身で自社の動画を使って自由に学習が可能 ・既存のIPカメラ、ネットワークカメラからの映像を解析可能 ・最大8台のカメラを同時に監視可能 ・手のひらサイズのエッジコンピューターJetson AGX Orinでも動作可能 ・複数人で教師データの作成が可能 ※詳しくは、PDFダウンロードより資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
- 企業：株式会社ネクストシステム 福岡本社
- 価格：50万円 ~ 100万円
ヨガの複雑なポーズも簡単解析『VP-VideoAnalyzer』
生徒の成長をサポートする新しいツール！ヨガポーズの客観的評価を可能にします！
「VP-VideoAnalyzer」は、搭載した姿勢推定AIエンジン「VisionPose」のシステムにより、 動画・静止画を読み込むだけで骨格情報や関節角度を検出するアプリケーションです。 VP-VideoAnalyzerをヨガのポーズ解析に活用した場合、以下のようなメリットが得られます。 ■手軽にヨガを始められる ・正しいポーズかどうかを簡単に確認できるため、初心者でも安心してヨガを始められることができます。 ■客観的なポーズ評価 ・目視では見落としがちな、関節の角度や体の軸の傾きなどを数値化し、正しいポーズかどうかを客観的に評価できます。 ■効率的な指導と学習 ・それぞれの生徒のポーズを数値化し、個人に合わせた指導計画を立てることができます。 ・継続的な練習によるポーズの変化を数値で可視化することで、学習の進捗を客観的に把握できます。 ■怪我のリスク低減 ・不適切なポーズによる怪我のリスクを早期に発見し、予防することができます。 本ページではヨガを解析した事例動画をご紹介しています。 是非お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社ネクストシステム 福岡本社
- 価格：10万円 ~ 50万円
地質調査・解析
土木地質全般の地質調査及び解析業務！水理地質関連業務も対応
当社では、構造物基礎、切土計画、斜面安定解析、軟弱地盤対策など、土木地質全般の 地質調査及び解析業務を実施しています。 また、地下水源開発や開発に向けた適地選定など、水理地質関連業務も行っています。 地質、地盤、地下水の調査は、あらゆる建造物を建設する際、また長期に渡って 良好に維持するためには不可欠な調査です。 【対象事業（抜粋）】 ■地表地質調査 ・地下の水源や、構造物の地盤がしっかりしているか確かめる上でも不可欠な調査 ■ボーリング調査 ・地面に孔を掘って地質の状態を明らかにする調査 ■物理深査 ・地下埋没物や構造物健全度判定を主体としたレーダー採査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社E-SYSTEM
- 価格：応相談
EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み
「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高抵抗不良箇所を特定します
当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出することもできます。 【EBAC法による解析事例】 ■SEM像 ■重ね合わせ画像 ■吸収電流像（電流センス） ■吸収電流像（電圧センス） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
