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高速温度測定システム
本システムは高速性と安定性を特徴としております。 サンプリングはデータ上10msec間隔で表現しておりますが、実質サンプリング間隔は50μsecと非常に高速なサンプリングを実現しております。 独自の解析処理を施し、10msecの高速性と安定性を実現しております。 データ安定性は実力で±0.05℃程度を実現しており、高速性と安定性の両立を望まれるuser様にとって最適なシステムとなっております。 カスタム熱電対との組合せにより、性能を活かすことができます（御用とに合わせご提案）。
ニーズに応じたカスタマイズサービスをご提供。
・高速温度集録システムと特殊熱電対（先端計13μm）を用い、LEDチップ表面の温度測定を行なうことができるシステム。 ・システム販売から受託評価まで、ニーズに応じたサービスを提供可能。 ・お客様ご要望に沿ったカスタマイズサービスをご提供。
試験槽と連動し、抵抗値変動を常時モニタリング！複数の試験槽の同時扱いも可能！
『導体抵抗測定システム』は、導通モニタリングシステムとも呼ばれ、 試験槽と連動し、抵抗値変動をリアルタイムにモニタリングできます。 温度センサを活用することで、複数の試験槽を同時に扱うことができるほか、 4線式でMin96チャンネル構成を基準に構成可能です。 【特長】 ■接合部の抵抗変化を、ポイントではなく連続的な変化として捉えることができる ■温度サイクル試験槽と連動し、導通抵抗を多チャンネルでリアルタイムにモニタリング ■2台の試験槽に対し、それぞれ独立した関係で試験を実施したいニーズに好適 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定環境に合ったカスタマイズも対応可能！カーブトレーサ自動測定システムをご紹介
★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ 皆さんはMOSFETやバイポーラトランジスタ等の半導体の電気特性を 評価する際、どのような計測器を使用されていますか？ 専用のテスタもありますが、手軽に評価できるカーブトレーサも 便利ですよね。でもカーブトレーサを使用する時、「評価項目が多いから、 手動で操作は面倒だな…」、「評価数も多いから、もっと簡単に操作 できたらいいな…」と思ったことはありませんか？ これらの要望を満足できれば、膨大な評価時間から解放されますよね。 そこでご紹介させて頂きたいのが『カーブトレーサ自動測定システム』です。 詳細については、是非ご一読ください。 【掲載内容】 ■カーブトレーサ自動測定システム ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
従来カーブトレーサを使い分けて測定する必要のあった製品を一括で自動測定！
WTIはデバイス周辺・情報通信機器等の設計受託会社です。 『カーブトレーサ自動測定システム』では、カーブトレーサ（370型及び370A型）を 連結及び信号分配する中継BOX製作を行います。 カーブトレーサと中継BOXを制御して、自動測定する環境構築等の実績がございます。 構築環境を用い、当社にて受託評価対応します。 【特長】 ■従来、2台のカーブトレーサを使い分けて測定する必要のあった製品を 一括で自動測定 ■高耐圧リレーと大電流リレーで数nAのリーク電流測定から300Aクラスの 大電流測定まで対応 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
