き裂成長モニタ ＣＧＭ－７
試験片に流す電流の電位差で、き裂の伸展をモニタ
クラックグロースモニターＣＧＭ-７は、（英国）マテレクト社が永年に亘る試験研究と経験により開発した、交流電位差法（ACPD）によりき裂の成長をモニターする測定器です。
- 企業：日本ハイコン株式会社
- 価格：応相談
モニタ×日本ハイコン株式会社 - 企業1社の製品一覧
製品一覧
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接触電気抵抗モニタ ＣＥＲ
様々な環境下における金属や合金の表面被膜の変化を、連続的な実測データとして採取
ＣＥＲは、水、陰イオンの吸着した金属表面の、還元、酸化皮膜の形成と破壊、陽イオンの電気化学的な取り込み、金属メッキ、それぞれのプロセスにおける表面皮膜の抵抗値を測定します。 これによって、プロセス機構そのものや、反応の活性物質、抑制物質への依存状況をその場で観測することができます。 また金属や合金の表面皮膜の半導体物性を、常温ならびに高温下で測定することも可能です。 （コルメット社：芬国 製）
- 企業：日本ハイコン株式会社
- 価格：応相談
き裂成長モニタ ＤＣＭ－２
各種荷重試験における試験片に一定の電流を流し､「き裂」の伸展に応じて変化する電圧を測定し、「き裂」をモニタ
最新のマイクロプロセッサ技術を応用したDCM-２は、材料試験における「き裂」の伸展をモニタする測定器です。
- 企業：日本ハイコン株式会社
- 価格：応相談
