デバイス×株式会社Wave Technology - メーカー・企業と製品の一覧

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【資料】しるとくレポNo.34#パワーサイクル試験

MOSFETを例に簡単に説明!耐久性を評価するためのパワーサイクル試験についてご紹介

★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ 突然ですが、皆さんは「信頼性試験」をご存知ですか? ざっくり説明しますと、製品の信頼性(性能、耐久性、安全性、故障率など) を評価する様々な試験の総称です。 主な目的は、設計どおりの性能となっているか確認することと、 市場要求品質を満たしているかを評価することです。 そんな信頼性試験の中から、当レポートでは、パワーデバイスの耐久試験の ひとつである「パワーサイクル試験」についてご紹介しましょう。 詳細については、是非ご一読ください。 【掲載内容】 ■ショートパワーサイクル試験(参考:JEITA-ED-4701/601 602) ■ロングパワーサイクル試験(参考:JEITA-ED-4701/603) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【資料】しるとくレポNo.53#アバランシェ試験(2)

デバイスの過渡熱抵抗など図を用いて解説!適当なパラメータを持つMOSFETを例にして計算を行います

★★しるとくレポ 知って得するお役立ち情報★★ 当レポートは、しるとくレポNo.52でお話ししたMOSFETのアバランシェ 耐量試験の続きとなります。 デバイスの過渡熱抵抗やアバランシェ動作時の損失と時間の関係について 図やグラフを用いて解説。 デバイス選定の際に、異なる条件で測定されたデバイスを比較しても あまり意味はありません。データシート値のみを参考にするだけではなく、 できるだけ実動作に近い環境で実測することをお勧めします。 【掲載内容】 ■デバイスの過渡熱抵抗 ■アバランシェ動作時の損失と時間の関係 ■Tjと時間のグラフ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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