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SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計測、治具開発を行います。
パワーデバイステスター『N50シリーズ』『N54シリーズ』は、 ディスクリート半導体や小規模なロジックデバイスに特化した製品です。 ニーズに応じてSiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具開発も行います。 【ラインアップ】 ＜『N50シリーズ』（200V耐圧仕様）＞ ■FPGAの搭載でテスター内部をフルロジックで同期でき、高速測定を実現 ■コンパクトなサイズでハンドラー内への組み込みが簡単 ■測定項目：静特性、熱抵抗、L負荷 ＜『N54シリーズ』（2000V耐圧仕様）＞ ■高耐圧＆低インピーダンス ■di/dt＝20kA/μSを実現 ■測定項目：静特性、熱抵抗、短絡耐量、スイッチング特性、RBSOA/RRSOA ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体テスター）
『N50シリーズ』は、200V耐圧仕様で、デスクトップサイズのパワー デバイステスターです。 ハンドラー内に収納ができ、デバイス直近に設置可能。静特性、熱抵抗、 L負荷測定（アバランシェ）を行うことができます。 また、当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応致します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■200V耐圧仕様 ■デスクトップサイズ ■ハンドラー内に収納 ■デバイス直近に設置可能 ■ラインアップ：静特性、熱抵抗、L負荷測定（アバランシェ） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
2000V耐圧仕様！低インピーダンスのパワーデバイステスター（半導体テスター）
『N54シリーズ』は、2000V耐圧仕様のパワーデバイステスターです。 FPGAの搭載により、テスター内部をフルロジックで同期させ、 高速測定を実現しています。 また、ハンドラー等装置への組込が容易かつ、テストステージまでの 配線距離が短縮され測定品質が向上しています。 【特長】 ■2000V耐圧仕様 ■低インピーダンス ■スイッチング特性 ■ハイスピード ■シンプル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
