1～2 件を表示 ／ 全 2 件
正常品と劣化品について外観確認やX線CTによる内部観察を行いました！
経年劣化により不具合を起こしたアルミ電解コンデンサについて、 内部状態をX線CTにより確認を行ったのでご紹介します。 劣化品は電解液の分解等によるガスにより内部圧力が上昇し、 劣化が進むと圧力弁の開放により電解液が噴出する恐れがありました。 また、ゴムキャップの変形による気密低下で徐々に電解液が揮発し 最終的には容量抜けでオープン不良になると考えられます。 【概要】 ■外観比較 ・正常品と劣化品について、外観確認を行った ■X線CTによる内部比較 ・正常品と劣化品について、X線CTによる内部観察を行った ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
チップコンデンサ(MLCC)で、顕微鏡の「観察モード」をご紹介！
当社で行った基板実装部品の断面観察例をご紹介いたします。 市販のパソコン基板を用いて、実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を 金属顕微鏡で観察。金属顕微鏡の観察モードには、明視野観察、暗明視野観察、 偏光観察等があります。その他、透過光による観察等もあり、試料に合わせて 観察モードを選択します。 信頼性試験前後に断面観察を行うことで製品の信頼性を評価することが できます。観察する際は、はんだ接合界面の状態やクラック等の欠陥部を 明確に捉えるために、好適な「観察モード」を選択することが重要です。 【事例概要】 ■市販のパソコン基板を使用 ■実装部品のはんだ接合部や部品内部の構造を金属顕微鏡で観察 ・観察モード：明視野観察、暗明視野観察、偏光観察等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
