光度計 Product List and Ranking from 24 Manufacturers, Suppliers and Companies

Last Updated: Aggregation Period:2025年08月27日~2025年09月23日
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光度計 Manufacturer, Suppliers and Company Rankings

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  1. 株式会社みらい 埼玉県/サービス業
  2. 協立電機株式会社 静岡県/情報通信業
  3. 株式会社村上色彩技術研究所 東京都/その他
  4. 4 株式会社フィッシャー・インストルメンツ 埼玉県/その他
  5. 5 株式会社ナノシーズ 愛知県/その他

光度計 Product ranking

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  1. 食中毒キャリア検査(検便検査)サービス 株式会社みらい
  2. 三次元変角光度計『GPシリーズ』 株式会社村上色彩技術研究所
  3. 微小粒子圧壊力測定装置 NS-A100 株式会社ナノシーズ
  4. 海水用、養殖向け。アンモニア硝酸など9項目対応/HI 97115 ハンナインスツルメンツ・ジャパン
  5. 4 変角光度計『GC 5000L』 日本電色工業株式会社

光度計 Product List

16~30 item / All 44 items

Displayed results

吸光光度計『DR3900』

コンパクトで多機能!誰でも簡単・迅速にさまざまなサンプル測定ができる吸光光度計

『DR3900』は、コンパクトな機器に多彩な機能を搭載した吸光光度計です。 本体には、重金属、無機イオン、有機物の分析方法がプログラムされており、 HACHが提供する試薬と組み合わせてこれらの測定が可能です。 また、内蔵プログラム以外に、ユーザー独自の検量線を入力可能。 サンプルに合わせた分析方法が設定できます。 【特長】 ■分析プログラムをインストール済み(専用試薬も多数用意) ■ユーザー独自の分析にも対応可能 ■波長スキャン機能搭載 ■カラータッチパネルを採用(7インチTFT液晶画面) ■多彩な測定セルに対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器
  • 計測・分析装置

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蛍光X線式測定器『XDALシリーズ』

非破壊で膜厚測定と素材分析ができる!品質管理や生産管理における測定にも好適!

『XDALシリーズ』は、微小部品や複雑な構造部品を非破壊で膜厚測定と 素材分析をするのに好適な蛍光X線式測定器です! また、プログラム可能な電動式XYステージを搭載しており、自動測定で 品質管理や生産管理における測定にも適しています。 さらに当シリーズは、FISCHERSCOPE X-RAYシステムの特長である 高精度かつ長期安定性により再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 【特長】 ■微小部品や複雑な構造部品を測定可能 ■非破壊で膜厚測定や素材分析ができる ■プログラム機能付き電動式XYステージを搭載 ■品質管理や生産管理における測定にも好適 ■再校正(キャリブレーション)に必要な時間や労力を大幅に削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器
  • 非破壊検査

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蛍光X線式測定器『XANシリーズ』

膜厚測定や素材分析用の蛍光X線分析装置!非破壊式で簡単に素早く測定!

『XANシリーズ』は、貴金属・歯科用合金・ホワイト ゴールド・銀・ ロジウムなど、あらゆる宝飾用合金やコーティングを非破壊式で簡単に素早く 測定することができる蛍光X線式測定器です。 わずか数秒で測定試料の構成元素が正確に確認することができます。 試料の設置を単純化させるため下側からX線を照射させるタイプとなっており、 サンプルの配置が簡単に早くできるようになっています。 【特長】 ■わずか数秒で測定試料の構成元素を正確に確認 ■下側からX線を照射させるタイプ ■サンプルの配置が簡単に早くできる ■誰でも操作ができる ■レポートの印刷も簡単 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器

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蛍光X線式測定器『XDLシリーズ』

簡単に膜厚測定と素材分析ができる汎用性の高い膜厚測定・素材分析装置です。

『XDLシリーズ』は、汎用性の高い蛍光X線式測定装置です。 当シリーズは、量産部品の品質管理・受入検査・生産管理における膜厚測定や組成分析に好適な装置です。 高精度かつ長期安定性をもち、再校正に必要な時間や労力を大幅に削減できます。 また、FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 【特長】 ■膜厚測定や組成分析に好適 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減 ■より簡単に膜厚測定と素材分析ができる ■使いやすく設計されたユーザーフレンドリーな卓上型 ■ハウジングの両サイドがスリット状になっており、大きな板状サンプルも測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器

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蛍光X線測定装置『X-RAY XDV-μ WAFER』

ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別設計された蛍光X線式測定器!

『FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μWAFER』は、ポリキャピラリーレンズ搭載の蛍光X線測定装置です。 ウェハーの膜厚測定と素材分析を自動測定できるよう特別に設計された モデルです。 さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、電動式で 切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 【特長】 ■ユーザーフレンドリーな構造 ■革新的なポリキャピラリーレンズを搭載 ■高精度で高分解能な検出感度を実現 ■再校正に必要な時間や労力を大幅に削減可能 ■簡単に膜厚測定と素材分析ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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蛍光X線測定器『X-RAY 4000シリーズ』

量産工程に組み込む測定オートメーションシステム

『FISCHERSCOPE X-RAY 4000シリーズ』は、生産ラインの現場にて インライン測定できるよう設計されたエネルギー分散型蛍光X線測定器です。 連続した量産工程に組み込んで測定するのに好適。 インライン測定システム用となっており、ユーザーフレンドリーかつ 最小限の設定で素早く実行が出来ます。 コンベアガイドの治具を取り換えて調整することで他の品目を測定可能です。 【特長】 ■プロセスモニタリング:測定値が制限範囲を超えた場合に警告ランプで表示 ■リモートコントロール:タスクプログラム、または外部制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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インライン測定システム『X-RAY 5000』

大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を連続して行うシステム!

『FISCHERSCOPE X-RAY 5000』は、大きな測定エリアを持つ量産品の 薄膜測定や合金分析を非破壊で連続して行うシステムです。 再現性精度は、大きな測定面積、半導体ディテクター、 デジタル信号処理技術により、非常に高いレベルに保たれています。 測定ヘッドはコンパクト設計になっており、製造ラインに直接組み込むことができます。 【特長】 ■大きな測定エリアを持つ量産品の薄膜測定や合金分析を非破壊で連続測定 ■表面温度が非常に高温な物まで(最大500℃まで)測定可能 ■大気中と真空中の両方の雰囲気中で測定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』

コンパクトで測定サンプルセッティングが簡単な蛍光X線測定装置

『FISCHERSCOPE X-RAY XULM』は、X線源と検出器が測定チャンバーの 下側に配置されており、迅速かつ容易なサンプルのセッティングが 行えるよう設計された蛍光X線測定装置です。 測定室内の高さがあり、大きなサンプルを測定することも可能。 短い時間で再現性精度に非常に優れた測定ができます。 【特長】 ■迅速かつ容易なサンプルのセッティングが行えるよう設計 ■大きなサンプルを測ることも可能 ■測定スポットを100μmレベルまで小さくできる ■比例計数管により比較的高いカウントレートが得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!薄膜・多層メッキを短時間で測定!

『X-RAY XDV-μ』は、汎用性が非常に高いエネルギー分散型蛍光X線 測定装置です。 非常に小さい部品や構造部分、複雑な多層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■最小10µmの集光レンズを搭載可  従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ■アルミニウムAl(13)からウランU(92)まで、最大24種類の元素を同時測定 ■装置ハウジングの側面に開口部を設けた卓上型装置 ■XY軸はモーター駆動式でプログラマブル、電動式切替のフィルター ■測定方向:上から下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 計測・分析装置

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illumiaシリーズ全光束分光測定システム

全光束を短時間で測定。低価格・全光束分光測定システム

illumiaシリーズは、LED・液晶バックライト・白熱灯・アークランプ・蛍光灯などの全光束を短時間で測定可能なシステムです。 従来のSLMSの基本性能を押さえながら、お求め安い価格でご提供できるシステムです。 【測定項目】 ・分光放射強度スペクトル(W/nm vs.nm) ・分光放射強度(W) ・全光束(lm) ・相関色温度(K) ・色度座標(x,y)(u,v) ・色度図 ・演色評価数(Ra)(R1,R2,・・・,R15) ・ドミナント波長(nm) ・ピーク波長(nm) ・中心波長(nm) ・重心波長(nm) ・半値幅(nm) ・色純度 ◇付属ソフトで、システム校正からデータの保存までコントロール。   データはエクセルへの変換ができ、レポート作成も簡単に実行可   能。

  • その他

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微小粒子圧壊力測定装置 NS-A100

微小粒子の圧壊力を超微小領域まで測定!明解な解析が可能な測定装置

『NS-A100』は、微小粒子の圧壊力を超微小領域まで測定することが可能で、 分かりやすい測定チャート表示で明解な解析ができます。 ユーザーが指定する任意の粒子の圧壊力(強度)を測定することが可能で、 センサーを交換することで100nN~12000mNまで広範囲に及ぶ測定が可能。 5μmの粒子まで測定が可能です。 【特長】 ■ユーザーが指定する任意の粒子の圧壊力(強度)を測定することが可能 ■センサーを交換することで100nN~12000mNまで広範囲に及ぶ測定が可能 ■3μmの粒子まで測定が可能 ■温調ステージ(オプション)で150℃までのステージ温度の  コントロールができる ■高性能除振台(オプション)にて測定ノイズを徹底的に抑えた、  精度の高い測定ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器

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【資料】自記分光光度計による透過率測定サービス

PET樹脂・PVC樹脂の透過率変化をグラフを用いて解説しております!

『自記分光光度計による透過率測定サービス』についてご紹介します。 透明素材の透過率は、使用される製品のスペックに重要な特性項目です。 熱、湿度、紫外線などによる劣化でその特性が低下、 または失われる場合があります。 当資料では、装置原理とともに、透明樹脂の恒温恒湿試験前後での 透過率の変化を比較評価した結果、および考察内容を掲載。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■自記分光光度計の原理、および仕様 ■PET樹脂(ポリエチレンテレフタレート)の透過率変化 ■PVC樹脂(塩ビ︓ポリビニルクロリド)の透過率変化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測器

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赤外分光法とラマン分光法の比較

2つの分析を⾏うことによってより詳細で正確に得ることが可能!

赤外分光法とラマン分光法の比較について、各分光法と得られる スペクトルの特長を紹介します。 赤外分光法とラマン分光法はどちらも分子の振動エネルギーを調べる 振動分光法ですが、各分光法で得られるスペクトルの形状は同⼀物質を 測定しても互いに異なります。 ⾚外分光法とラマン分光法は相補的であり、どちらか単独の分析では得られない 情報も、2つの分析を⾏うことによってより詳細で正確に得ることができます。 なお、詳細は掲載カタログにてご紹介しておりますので、是非ご一読ください。 【⾚外分光法 特長】 ■振動に伴い双極子モーメントが変化する時に赤外吸収が起きる(赤外活性) ■電子の偏りが生じる(分子の対称性が崩れる)振動は赤外活性が高い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析・予測システム

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多波長励起蛍光光度計 MFL05W-USB(50m) のレンタル

9波長の多波長励起を同時に測ることが可能!

植物プランクトンの蛍光特性を把握し、量や種組成を同時に測定が可能です。 水位計、海洋系統も含め計測器を多く手掛けるJFEアドバンテック製品です。 ※詳しくは下記の「PDFダウンロード」からカタログをご覧下さい。  「お問い合わせ」からお見積り依頼も可能です。お気軽にどうぞ。

  • 計測・分析機器リース・レンタル

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【高性能プロセスガス分析 FT-IR】MATRIX-MG5

低容量・高速置換ガスセル!校正不要でバックグラウンド測定無しで測定可能です

『MATRIX-MG5』は、RockSolid干渉計を搭載した広い測定濃度範囲の製品です。 校正は不要で、コンパクトかつ堅牢な筐体。バックグラウンド測定無しで 測定が可能です。 また、当製品のソフトウェア「OPUS GA」は、プロセスモニタリングに 最適化したユーザーインターフェースを装備し、プロセスガス計測結果を トレンドチャート画面で瞬時に把握、計測結果と吸収スペクトルとの相関を スペクトル画面で解析が可能です。 【特長】 ■RockSolid干渉計搭載 ■校正不要 ■バックグラウンド測定無しで測定可能 ■簡単操作およびメンテナンス ■広い測定濃度範囲 ■コンパクトかつ堅牢な筐体 ■低容量・高速置換ガスセル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他分析機器

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