試験受託サービス - 企業ランキング(全6社)
更新日： 集計期間:2025年06月04日〜2025年07月01日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ■HBM試験（C=100pF、R=1.5kΩ） ±5～±4500V（Step：5V） ■MM試験（C=200pF、R=0Ω） ±5～±2000V（Step：5V） ■単一印加、ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等 多様な印加条件に対応します。 ■破壊判定方法は、保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、 VoL/VoH特性評価、電源ピンの特性評価の4種類に対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。 | ESDA JEDEC JEITA AEC IEC 各種規格試験 | ||
ESD(CDM)試験受託サービス
応相談 |
【装置仕様】 ■印加(充電)電圧：0～±4000V ■ステップ電圧：5V ■印加回数：1～99回 ■ピン数：最大1024ピン ■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ方法 ・D-CDM(直接チャージ法)：JEITA、EIAJ、AEC ・FI-CDM(電界誘導法)：JEDEC、AEC | ||
ESD（CDM）試験受託サービス
応相談 |
■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度：0.1mm ■印加ユニット：JEDEC（JESD22-C101F）、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法 FI-CDM：電界誘導法（JEDEC・AEC） D-CDM：直接チャージ法（JEITA・EIAJ・AEC） ☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始 AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。 AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。 | JEDEC JEITA EIAJ AEC 各種規格試験 | |
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株式会社アイテス
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- 代表製品
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ESD（HBM・MM）試験受託サービス
- 概要
- ■HBM試験（C=100pF、R=1.5kΩ） ±5～±4500V（Step：5V） ■MM試験（C=200pF、R=0Ω） ±5～±2000V（Step：5V） ■単一印加、ステップアップ印加、ピンコンビネーション印加等 多様な印加条件に対応します。 ■破壊判定方法は、保護ダイオード特性評価、IiL/IiH特性評価、 VoL/VoH特性評価、電源ピンの特性評価の4種類に対応します。 ■ソケット、専用基板等の手配・試験ボード作製にも対応します。
- 用途/実績例
- ESDA JEDEC JEITA AEC IEC 各種規格試験
ESD(CDM)試験受託サービス
- 概要
- 【装置仕様】 ■印加(充電)電圧：0～±4000V ■ステップ電圧：5V ■印加回数：1～99回 ■ピン数：最大1024ピン ■印加ユニット：JEDEC、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ方法 ・D-CDM(直接チャージ法)：JEITA、EIAJ、AEC ・FI-CDM(電界誘導法)：JEDEC、AEC
- 用途/実績例
ESD（CDM）試験受託サービス
- 概要
- ■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度：0.1mm ■印加ユニット：JEDEC（JESD22-C101F）、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法 FI-CDM：電界誘導法（JEDEC・AEC） D-CDM：直接チャージ法（JEITA・EIAJ・AEC） ☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始 AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。 AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。
- 用途/実績例
- JEDEC JEITA EIAJ AEC 各種規格試験
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株式会社アイテス
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