欠陥検査装置 - 企業ランキング(全9社)

更新日: 集計期間:2025年10月08日〜2025年11月04日
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会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠... ハードディスク(基板・メディア)表面欠陥検査
ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠... ハードディスク(基板・メディア)表面欠陥検査
【主な仕様】(型式:LE-W1) 検出方式  :レーザー散乱方式、反射方式、位相シフト方式 検出欠陥  :パーティクル、スクラッチ、ピット、ヒロック、ステイン等 対象素材  :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6、8インチ (その他、別途ご相...
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  1. 代表製品
    ハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorerハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorer
    概要
    ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠...
    用途/実績例
    ハードディスク(基板・メディア)表面欠陥検査
    ハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorerハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorer
    概要
    ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠...
    用途/実績例
    ハードディスク(基板・メディア)表面欠陥検査
    レーザー式ウェハ表面欠陥検査装置 Laser Explorerレーザー式ウェハ表面欠陥検査装置 Laser Explorer
    概要
    【主な仕様】(型式:LE-W1) 検出方式  :レーザー散乱方式、反射方式、位相シフト方式 検出欠陥  :パーティクル、スクラッチ、ピット、ヒロック、ステイン等 対象素材  :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6、8インチ (その他、別途ご相...
    用途/実績例