パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全15社)
更新日: 集計期間:2026年05月27日〜2026年06月23日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ● ISO 21501-4(JIS B 9921)適合 ● 粒径区分(5段階)0.3μm、0.5μm、1.0μm、2.0μm、5.0μm以上 ● センサ・ポンプ一体の小型設計 ● 筐体にステンレスを採用し、耐薬品性を向上 ● 多点モニタリングシステムに対応( RPモニタ ... | クリーンルームの粒子測定 医薬品製造工場 電子デバイス製造工場 | ||
| ●測定粒径範囲:0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921:1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自... | クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等 | ||
| ●5段階の粒子を同時に測定 0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ●定格流量は100 mL/min・最大300 mL/min ●イナートガス、腐食性ガス、反応性ガスなどの直接測定が可能 ●リークタイト、アウトガスフリー、デットスペース... | 半導体工場 ガス供給ライン ガス製造工場 | ||
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- 代表製品
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パーティクルカウンター気中 0.3μm 多点監視用 KA-03
- 概要
- ● ISO 21501-4(JIS B 9921)適合 ● 粒径区分(5段階)0.3μm、0.5μm、1.0μm、2.0μm、5.0μm以上 ● センサ・ポンプ一体の小型設計 ● 筐体にステンレスを採用し、耐薬品性を向上 ● 多点モニタリングシステムに対応( RPモニタ ...
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 医薬品製造工場 電子デバイス製造工場
パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22A
- 概要
- ●測定粒径範囲:0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921:1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自...
- 用途/実績例
- クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
パーティクルカウンター 半導体特殊材料ガス用 KS-93
- 概要
- ●5段階の粒子を同時に測定 0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ●定格流量は100 mL/min・最大300 mL/min ●イナートガス、腐食性ガス、反応性ガスなどの直接測定が可能 ●リークタイト、アウトガスフリー、デットスペース...
- 用途/実績例
- 半導体工場 ガス供給ライン ガス製造工場
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