パーティクルカウンタ - 企業ランキング(全15社)

更新日: 集計期間:2026年05月27日〜2026年06月23日
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会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
● ISO 21501-4(JIS B 9921)適合 ● 粒径区分(5段階)0.3μm、0.5μm、1.0μm、2.0μm、5.0μm以上 ● センサ・ポンプ一体の小型設計 ● 筐体にステンレスを採用し、耐薬品性を向上 ● 多点モニタリングシステムに対応( RPモニタ ... クリーンルームの粒子測定 医薬品製造工場 電子デバイス製造工場
●測定粒径範囲:0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921:1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自... クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
●5段階の粒子を同時に測定 0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ●定格流量は100 mL/min・最大300 mL/min ●イナートガス、腐食性ガス、反応性ガスなどの直接測定が可能 ●リークタイト、アウトガスフリー、デットスペース... 半導体工場 ガス供給ライン ガス製造工場
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  1. 代表製品
    パーティクルカウンター気中 0.3μm 多点監視用 KA-03パーティクルカウンター気中 0.3μm 多点監視用 KA-03
    概要
    ● ISO 21501-4(JIS B 9921)適合 ● 粒径区分(5段階)0.3μm、0.5μm、1.0μm、2.0μm、5.0μm以上 ● センサ・ポンプ一体の小型設計 ● 筐体にステンレスを採用し、耐薬品性を向上 ● 多点モニタリングシステムに対応( RPモニタ ...
    用途/実績例
    クリーンルームの粒子測定 医薬品製造工場 電子デバイス製造工場
    パーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22Aパーティクルカウンター 気中 0.1μm KC-22A
    概要
    ●測定粒径範囲:0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm各粒子以上 ● JIS B 9921:1997適合 ● 光源に半導体レーザ励起型固体レーザを採し、優れた耐久性を実現 ● RS-232Cによるインタフェースを標準装備、コンピュータによる自...
    用途/実績例
    クリーンルームの粒子測定 精密部品の製造工程 ハードディスク製造工程 等
    パーティクルカウンター 半導体特殊材料ガス用 KS-93パーティクルカウンター 半導体特殊材料ガス用 KS-93
    概要
    ●5段階の粒子を同時に測定 0.1 μm、0.15 μm、0.2 μm、0.3 μm、0.5 μm以上 ●定格流量は100 mL/min・最大300 mL/min ●イナートガス、腐食性ガス、反応性ガスなどの直接測定が可能 ●リークタイト、アウトガスフリー、デットスペース...
    用途/実績例
    半導体工場 ガス供給ライン ガス製造工場