デュアル膜厚計 - 企業ランキング(全8社)

更新日： 集計期間:2025年06月04日〜2025年07月01日
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会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
株式会社レックス 株式会社レックス 測定キューブ
デュアルタイプ膜厚計 LZ-373
デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

10万円 ~ 50万円

 ■仕様 測定方式 電磁誘導/渦電流式兼用 測定対象 磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲 電磁誘導式:0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式:0～1200μmまたは47.0mils 測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、 1000μm以上:±3% 分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm データメモリ数 約39,000点 検量線メモリ アプリケーションメモリ: 電磁誘導式50本、渦電流式50本の検量線を記憶 プローブ 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) 表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) 外部出力 パソコン(USBまたはRS-232C)、 プリンタ(RS-232C)に出力可能 電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 消費電力 80mW(バックライト非点灯時) 電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) 使用温度範囲 0～40℃ ■構成品 本体、標準板セット、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、アルミ素地(NFE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■オプション 標準板("フィルム、ベリリューム(1mm未満)")、標準板("ベリリューム(1mm以上)")、標準ペンシル型Fe用プローブ(LEP-J)、L字型Fe用プローブ(LEP-21L)、L字型NFe用プローブ(LHP-21L)、プローブアダプタ、鉄素地板(FE-J)、アルミ素地板(NFE-J)、ACアダプタ(100V )、標準板ケース(L-J)、プリンタ(VZ-330)、キャリングケース、McWAVE Lite、McWAVE Lite 2、McWAVE Standard、McWAVE Professional、McWAVE MultiProp、データ管理ソフト:「データロガー LDL-02」
デュアルタイプ膜厚計 「エスカル」 LZ-990
デュアルタイプ膜厚計 「エスカル」 LZ-990

10万円 ~ 50万円

 ■仕様 測定方式 電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付き) 測定対象 磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の 絶縁被膜 測定範囲 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils 測定精度 50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2% 1000μm以上2000μm未満±3% 分解能 100μm未満0.1μm100μm以上1μm 表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) データメモリ 約1000点 アプリケーション メモリ 電磁式・渦電流式各8種　計16本の検量線を記憶 電源 電池1.5V (単4 アルカリ)× 2 消費電力 40mW(バックライト非点灯時) 使用温度範囲 0 ～ 40℃ 外部出力 パソコン(USB)、プリンタ(RS-232C)に出力可能 寸法・質量 82(W)× 99.5(D)× 32(H)mm、約160g ■構成品 本体、ゼロ板ホルダ(鉄素地、アルミ素地)、標準板(50、100、1000μm)、キャリングポーチ、電池1.5V(単4アルカリ)×2、リストストラップ ■オプション 標準板("フィルム、ベリリューム、(1mm未満)")、標準板("ベリリューム、(1mm以上)")、ゼロ板ホルダ(鉄素地・アルミ素地)、鉄素地板(FE-J)、アルミ素地板(NFE-J)、ACアダプタ(100V )、標準板ケース(L-J)、プリンタ(VZ-330)、McWAVE Lite、McWAVE Lite 2、McWAVE Standard、McWAVE Professional、McWAVE MultiProp、データ管理ソフト:「データロガー LDL-01」、測定スタンドLW-990
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  1. 株式会社レックス 株式会社レックス 測定キューブ
    代表製品
    デュアルタイプ膜厚計 LZ-373デュアルタイプ膜厚計 LZ-373
    概要
    ■仕様 測定方式 電磁誘導/渦電流式兼用 測定対象 磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲 電磁誘導式:0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式:0～1200μmまたは47.0mils 測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、 1000μm以上:±3% 分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm データメモリ数 約39,000点 検量線メモリ アプリケーションメモリ: 電磁誘導式50本、渦電流式50本の検量線を記憶 プローブ 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) 表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) 外部出力 パソコン(USBまたはRS-232C)、 プリンタ(RS-232C)に出力可能 電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 消費電力 80mW(バックライト非点灯時) 電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) 使用温度範囲 0～40℃
    用途/実績例
    ■構成品 本体、標準板セット、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、アルミ素地(NFE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■オプション 標準板("フィルム、ベリリューム(1mm未満)")、標準板("ベリリューム(1mm以上)")、標準ペンシル型Fe用プローブ(LEP-J)、L字型Fe用プローブ(LEP-21L)、L字型NFe用プローブ(LHP-21L)、プローブアダプタ、鉄素地板(FE-J)、アルミ素地板(NFE-J)、ACアダプタ(100V )、標準板ケース(L-J)、プリンタ(VZ-330)、キャリングケース、McWAVE Lite、McWAVE Lite 2、McWAVE Standard、McWAVE Professional、McWAVE MultiProp、データ管理ソフト:「データロガー LDL-02」
    デュアルタイプ膜厚計 「エスカル」 LZ-990デュアルタイプ膜厚計 「エスカル」 LZ-990
    概要
    ■仕様 測定方式 電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付き) 測定対象 磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の 絶縁被膜 測定範囲 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils 測定精度 50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2% 1000μm以上2000μm未満±3% 分解能 100μm未満0.1μm100μm以上1μm 表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) データメモリ 約1000点 アプリケーション メモリ 電磁式・渦電流式各8種　計16本の検量線を記憶 電源 電池1.5V (単4 アルカリ)× 2 消費電力 40mW(バックライト非点灯時) 使用温度範囲 0 ～ 40℃ 外部出力 パソコン(USB)、プリンタ(RS-232C)に出力可能 寸法・質量 82(W)× 99.5(D)× 32(H)mm、約160g
    用途/実績例
    ■構成品 本体、ゼロ板ホルダ(鉄素地、アルミ素地)、標準板(50、100、1000μm)、キャリングポーチ、電池1.5V(単4アルカリ)×2、リストストラップ ■オプション 標準板("フィルム、ベリリューム、(1mm未満)")、標準板("ベリリューム、(1mm以上)")、ゼロ板ホルダ(鉄素地・アルミ素地)、鉄素地板(FE-J)、アルミ素地板(NFE-J)、ACアダプタ(100V )、標準板ケース(L-J)、プリンタ(VZ-330)、McWAVE Lite、McWAVE Lite 2、McWAVE Standard、McWAVE Professional、McWAVE MultiProp、データ管理ソフト:「データロガー LDL-01」、測定スタンドLW-990
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