デュアル膜厚計 - 企業ランキング(全7社)
更新日: 集計期間:2025年08月06日〜2025年09月02日
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会社名 | 代表製品 | ||
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製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
■測定方式 電磁誘導式/過電流式兼用 ■測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 ■測定範囲 電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、過電流式:0~1200μmまたは47.0mils ■測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3% ■分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm ■適合規格 JIS 5600準拠 ■データメモリ数 約3000点 ■検量線メモリ アプリケーションメモリ:電磁式50本、過電流式50本の検量線を記憶 ■プローブ 一点接触定圧式(LEP-J,LHP-J) ■表示方法 デジタル(バックライト付LCD 128×64Dots、表示最小桁0.1μm ■電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■消費電力 80mW(バックライト非点灯時) ■電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) ■動作環境温度 0~40℃ ■寸法・質量 75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34kg | ■付加機能 ・アプリケーション選択 ・素地補正 ・データ削除 ・データメモリ ・上下限設定 ・統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値) ・表示選択 ・日付・時刻 ・自動OFF時間 ・バックライト明るさ ・バックライト時間 ・単位 ・データ出力 ・自動ロット区分 ・測定方法 ・メンテナンスモード | ||
■測定方式 電磁誘導式/過電流式兼用 ■測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 ■測定範囲 電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、過電流式:0~1200μmまたは47.0mils ■測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3% ■分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm ■適合規格 JIS 5600準拠 ■データメモリ数 約39,000点 ■検量線メモリ アプリケーションメモリ:電磁式50本、過電流式50本の検量線を記憶 ■プローブ 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) ■表示方法 デジタル(バックライト付LCD) 128×64Dots、表示最小桁0.1μm ■電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■消費電力 80mW(バックライト非点灯時) ■電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) ■動作環境温度 0~40℃ ■寸法・質量 75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34kg | ■付加機能 ・アプリケーション選択 ・素地補正 ・データ削除 ・データメモリ ・上下限設定 ・統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値) ・表示選択 ・日付・時刻 ・自動OFF時間 ・バックライト明るさ ・バックライト時間 ・単位 ・データ出力 ・自動ロット区分 ・測定方法 ・メンテナンスモード | ||
■測定範囲 ・電磁誘導式:0~1,500μmまたは60.00mils ・渦電流式:0~800μmまたは32.00mils | |||
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- 代表製品
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デュアルタイプ膜厚計『LZ-370』【レンタル】
- 概要
- ■測定方式 電磁誘導式/過電流式兼用 ■測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 ■測定範囲 電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、過電流式:0~1200μmまたは47.0mils ■測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3% ■分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm ■適合規格 JIS 5600準拠 ■データメモリ数 約3000点 ■検量線メモリ アプリケーションメモリ:電磁式50本、過電流式50本の検量線を記憶 ■プローブ 一点接触定圧式(LEP-J,LHP-J) ■表示方法 デジタル(バックライト付LCD 128×64Dots、表示最小桁0.1μm ■電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■消費電力 80mW(バックライト非点灯時) ■電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) ■動作環境温度 0~40℃ ■寸法・質量 75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34kg
- 用途/実績例
- ■付加機能 ・アプリケーション選択 ・素地補正 ・データ削除 ・データメモリ ・上下限設定 ・統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値) ・表示選択 ・日付・時刻 ・自動OFF時間 ・バックライト明るさ ・バックライト時間 ・単位 ・データ出力 ・自動ロット区分 ・測定方法 ・メンテナンスモード
デュアルタイプ膜厚計『LZ-373』【レンタル】
- 概要
- ■測定方式 電磁誘導式/過電流式兼用 ■測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 ■測定範囲 電磁誘導式:0~2500μmまたは99.0mils、過電流式:0~1200μmまたは47.0mils ■測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、1000μm以上:±3% ■分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm ■適合規格 JIS 5600準拠 ■データメモリ数 約39,000点 ■検量線メモリ アプリケーションメモリ:電磁式50本、過電流式50本の検量線を記憶 ■プローブ 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) ■表示方法 デジタル(バックライト付LCD) 128×64Dots、表示最小桁0.1μm ■電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■消費電力 80mW(バックライト非点灯時) ■電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) ■動作環境温度 0~40℃ ■寸法・質量 75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34kg
- 用途/実績例
- ■付加機能 ・アプリケーション選択 ・素地補正 ・データ削除 ・データメモリ ・上下限設定 ・統計計算(測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値) ・表示選択 ・日付・時刻 ・自動OFF時間 ・バックライト明るさ ・バックライト時間 ・単位 ・データ出力 ・自動ロット区分 ・測定方法 ・メンテナンスモード
デュアルタイプ膜厚計『LZ-330J』【レンタル】
- 概要
- ■測定範囲 ・電磁誘導式:0~1,500μmまたは60.00mils ・渦電流式:0~800μmまたは32.00mils
- 用途/実績例
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