非接触 XYマッピング計測 赤外線式厚さ測定機 膜厚測定機
赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー!」
<XYマッピング測定可能> ワークをXY移動しながらマッピング計測可能 <すぐに使える操作性> 基準片から検量線を自動作成します すぐに計測開始可能です <メンテナンスフリー> 光源・線源等、短期交換部品はありません
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赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー!」
<XYマッピング測定可能> ワークをXY移動しながらマッピング計測可能 <すぐに使える操作性> 基準片から検量線を自動作成します すぐに計測開始可能です <メンテナンスフリー> 光源・線源等、短期交換部品はありません
【180通り以上】膜厚測定したい下地材と皮膜の組み合わせから測定できる測定方式が確認できる一覧表!
株式会社フィッシャー・インストルメンツは60年以上に及ぶ経験と実績をもとに⾼品質・⾼精度な測定機器を提供している専⾨メーカーです。 本資料では当社が測定可能な下地材と皮膜の組み合わせを示し、 その組み合わせの膜厚の測定方式をわかりやすくまとめております。 〈下地材と皮膜の組み合わせの例〉※全187通り掲載 ・鉄xアルミ ・銅×錫 ・ニッケル×金 等 ※詳しくは資料をダウンロード、もしくはお問合せください。
多数の納入実績を誇る業界標準機!リニアアレー受光素子を採用
『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な 各種膜構造の膜厚測定ができます。 【特長】 ■高感度高分解能ヘッド(オプション)にて酸化膜換算で70μmまで測定可能 ■100倍レンズ(φ0.75μmの微小スポット)も使用可能 ■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能 ■さまざまなアプリケーション(磁気ヘッド、FPD、材料研究等)に対応し、 用途別に試料台作成可能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。