スキャンカメラ(ラインセンサ) - メーカー・企業と製品の一覧

スキャンカメラの製品一覧

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4センサーラインスキャンカメラ『BVC6200LM』

-3dBから+12dBのゲイン設定!3種類の動作モードに対応する4センサーラインスキャンカメラ

『BVC6200LM』は、4KのCMOSラインセンサを3個及び1KのInGaAsラインセンサを 搭載したRGB/SWIR 4分光ラインスキャンカメラです。 電子シャッタは1μs単位で9.52μs から100msまで可変が可能。 M52マウントを使用した筐体に、新開発のラインセンサ用大型プリズムを 搭載しています。 映像出力は、カメラリンク・ミディアムコンフィグレーション8ビット×4 R/G/B/SWIRとなっております。 【特長】 ■新開発ラインスキャンカメラ用色分解プリズム光学系 ■400nm~1680nm間で4波長選択のカスタム対応が可能 ■4096画素、7μm正方画素、CMOSセンサ×3 ■1024画素、12.5μm正方画素、SWIRセンサ×1 ■ピクセルクロック 80MHz、ラインレート 18,034 ライン/秒 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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『画像検査・画像処理関連機器カタログ』※機器ごとの用途例も紹介

マシンビジョン・ラインスキャンカメラ、レンズ、照明ほか。画像検査機器・制御システムをトータルでご提案。機器貸し出しもOK。

FAカメラ、ラインスキャンカメラ、レンズ、画像キャプチャーボード、 画像処理ソフトなど、画像検査や制御システム向け製品を取り扱う当社では、 用途に適した機器構成を価格を含めてコーディネートし、ご提案しています。 「PDFダウンロード」より、用途例なども紹介したカタログを配布中。 また、機器採用を検討するための貸し出し機器もご用意しています。 「お問い合わせ」より、お気軽にご相談ください。 【主な掲載製品】 ■16k白黒ラインスキャンカメラ ■Fマウント/Cマウント白黒ラインスキャンカメラ ■小型カラーカメラ ■画像処理用レンズ各種 ■画像キャプチャーボード ■カメラケーブル各種 ※詳細はPDFをダウンロードしてご覧ください。

  • 防犯カメラ・監視システム

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ラインスキャンカメラ『BVC6100LM』

各種画像補正機能搭載!コンパクトな筐体設計の4CMOS 4K RGB/NIR ラインスキャンカメラ

『BVC6100LM』は、4KのCMOSラインセンサを4個搭載した4CMOS RGB/NIR カラーラインスキャンカメラです。 M52マウントを使用した筐体に、新開発のラインセンサ用大型プリズムを搭載。 BVカメラコントロールツールを提供します。 「No Shutter mode」、「Shutter Select mode」、「パルス幅トリガ」の 3種類の動作モードに対応しています。 【特長】 ■新開発ラインスキャンカメラ用色分解プリズム光学系 ■400nm~1000nm間で4波長選択のカスタム対応可能 ■4096画素、7μm正方画素、CMOSセンサ×4 ■小型軽量、コンパクトな筐体設計 ■ピクセルクロック 80MHz、ラインレート 18,034 ライン/秒 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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画像センサによる外観検査【印刷物の製品検査】事例資料プレゼント!

少ない台数のカメラで高い解像度を得ることが可能!動く表面を100%撮像

「ラインスキャンシステム」を印刷物の製品検査に用いた事例をご紹介します。 紙から段ボール、プラスチック、金属などで出来たシートやロールの 形状になっている印刷物の検査は当システムが好適。 ラインスキャンにより、ロールの動く方向に提供される画素の数に、 制限がなくなり、高速で高いダイナミックレンジになっても、 スミアの発生がなくなります。この結果生産性は向上し、 ピクセルあたりの単価を下げることが可能です。 【製品検査内容】 ■大量のWeb検査 ■梱包検査 ■チケットの検査 ■紙幣の検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 測定・検査

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画像センサによる外観検査【半導体検査事例】事例資料プレゼント!

ウェハーおよびマスクの検査における品質管理!優れたウェハー検査システムにおいて重要な役割

高性能のセンサー、カメラ、フレームグラバ、画像処理装置、 画像処理ソフトウェアを用いた、半導体検査事例をご紹介いたします。 テレダインダルサ社の「Falcon2 CMOSカメラ」は、数百メガピクセルの 解像度と高いフレームレートを持っており、エリアスキャン型の 検査システムに好適。 「TDIラインスキャンカメラ」は高い感度を持っており、優れた ウェハー検査システムにおいて重要な役割をはたしています。 【事例概要】 ■半導体ウェハー検査 ■半導体マスク検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 測定・検査

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2波長ラインスキャンカメラ『BVC3220/3221LM』

オプションとしてSWIRレンズ6機種をご用意!SWIR帯域を2つに分けた分光カメラのご紹介

『BVC3220/3221LM』は、プリズム光学系とInGaAsラインセンサーを 2個採用したSWIRラインスキャンカメラです。 各々のセンサーで取り込む映像を、プリズム分光を利用してそれぞれ 異なる波長帯域に設定。 「BVC3220LM」は、1024画素InGaAsセンサーを使用し、「BVC3221LM」は 高感度512画素InGaAsセンサーを使用しています。 【特長】 ■通常の可視光のカメラではむずかしい異物検査、傷検査、内部検査等が可能 ■インターフェースはカメラリンク・ベースコンフィグレーション、  レンズマウントにはM52マウントを採用 ■SWIRレンズ6機種、20mm、24mm、28mm、35mm、50mm、105mmをご用意 ■SWIR帯域を2つに分けた分光カメラ ■900nm~1680nmの間の任意の2波長を取り扱うカメラも特注品として製作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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