更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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シャーシ型・5A／10A／12.5A・出力レーザダイオードドライバ
【 PLD5K-CH／PLD10K-CH／PLD12.5K-CH】 ■+5V低電圧駆動で、アクティブ電流制限機能付きの高性能レーザダイオードドライバ”PLDシリーズ”からヒートシンクを取り外した、シャーシ型のレーザダイオードドライバ ■出力電流値：5A／10A／12.5A ■他の仕様は”PLDシリーズ”と同等 ■高い電流安定性が必要で、且つ省スペースな製品をお求めの場合に最適
Andover社では、金属コーティング及び吸収型のNDフィルタを製造しています
■メタリックNDフィルタ(Metallic ND Filter) ・ご希望の波長域で選択された基盤の上に金属合金を堆積させることにより光学密度を得る ■吸収型NDフィルタ(Absorptive ND Filter) ・Schott NGガラスを使い製造されており、所望の減衰レベルを得るためにガラスの吸収効果に厳密に依存する ＊これらのNDフィルタはセットでも販売しております ＊セットは全て収納木箱付きで提供致します
”DHPCA-100”は、バンド幅200MHzまでの小電流を有効な電圧に変換可能
■最高200MHzまでのDC/AC測定、ナノ秒までの時間分解測定、高速ディテクタシグナルのプリアンプなどに最適 ■ゲイン：102～108V/A範囲で可変 ■AC/DCカップリングが変更でき、ベースライン補正用オフセットや高速フォトダイオード用バイアス電圧も調整可能 ■ゲインとバンド幅のバランスが良いのが特長 ■ゲイン設定が103V/Aのときは、200MHzという高い3dBバンド幅をもつ ■ゲイン設定が108V/Aのときにおける高周波側のカットオフ周波数は200kHz ■マニュアル操作とリモートコントロールの両方が可能 ■ケースは丈夫でコンパクトなEMIシールドケース ■取り外し可能な10MHz及び1MHzローパスフィルタ付で、バンド幅ノイズを除去できる
静電容量からも影響を受けず、周波数補正や特殊な接続をすることなく規定の最大静電容量値までバンド幅とゲインを一定に保つ
■高周波数製品を使用する多くの場合、不要な振動、グランドシールドの不完全さ、非線形性、アンプの設計不十分によるゲインピーキングやバンド幅減少などが問題となるが、Femto社のカレントアンプはこれらの問題に十分に対処できるよう設計されている。 ■シグナルのソースパラメータや配線に影響されず、静電容量最大2nFまでゲインピーキング・振動・大きなバンド幅減少を防ぐ。 ■静電容量が数pFの場合、高周波数カレントアンプのバンド幅は大きく減少する一方、Femto社の高速カレントアンプには、この制限がなく広いレンジをもつ静電容量からも影響を受けない。 ■精密オフセット及びバイアスコントロール用に、二つのトリムポットがついており柔軟に使用できる。 ■入力オフセット電流補正は広い範囲を調整でき、大きなDCコンポーネントからの信号でもダイナミクスを完全に保持する。 ■バイアス出力電圧は、このバイアストリムポットにより、-12～+12V内で調整できる。
本製品はドイツ FirstSensor社が開発したγ線、β線 放射線検出用フォトダイオードです。
本製品はドイツ First Sensor社が開発したガンマ線、ベータ線 放射線検出用フォトダイオードです。 受光面積が10 ｘ1０ｍｍと大きく、また黒エポキシで斜光しており 感度向上とノイズ低減対策しております。 ピンタイプ、SMDタイプの両方を用意しており 実験、量産用と対応しております。
超微弱近赤外測定の高精度化を実現！
近年「近赤外領域」測定の需要が多くなってまいりましたが、 手軽に測定できる測定機がありませんでした。 弊社では分光放射計のSRシリーズで培われた技術を基に 「近赤外分光放射計SR－NIR」を開発いたしました。 分光放射計SRシリーズと併用していただくことにより、 380nm～1030nmの分光放射輝度を測定することが可能です。 その他詳細はカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
HDR、高速性、操作性を追求したSRシリーズ次世代機
本製品は超低輝度から超高輝度まで、高感度、高速に計測できる、シリーズ最新機種となる分光放射計です。 測定角1°で0.0005cd/m²からの超低輝度計測に対応、高輝度は500,000,000cd/m²まで範囲を拡大し、 超高輝度LEDなどを外付けNDフィルタを使用せずに計測可能です。 光学系のリニューアルによる感度向上や内部アルゴリズムの改善により大幅な測定時間の短縮を実現 また、大画面カラータッチパネルの採用によりユーザービリティも向上、直感的な操作が可能です。
2D分光放射計による肌とコスメの定量化をわかりやすく紹介！
2D分光放射計による美の計測術!! 化粧品や肌のつや、シミなどの評価で、主流となるのは目視検査による官能評価です。 こうした官能評価に対し、測定機器を使用して数値化することで定量測定が可能です。 一般的な測色計は肌の一部しか測定ができないため、ムラがわかりにくいですが、2D分光放射計は肌全体の画像や分光データを記録でき、肌の色や化粧品などを定量化した測定事例を紹介しています。 【掲載内容例】 ■肌の評価事例 ■肌の測定画像および分光反射率 ■シミや毛穴など表皮層評価 ■ファンデーション評価 ■テカリ評価 ■照明による肌評価 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
太陽光に近い分光のLED！照度ムラ±5%以下で、照度・色温度は4系統を切り替えます
『LBR-244CRI』は、演色性の高いLEDを使用した反射型チャート光源です。 BOX内奥にチャートを装着したり、立体物を配置することが可能。 色温度4点、輝度4点の計16パターンをスイッチで切り替えます。 さらに高い精度で照射させる場合には、内部の照度センサーで照度の 再調整が可能です。 【特長】 ■太陽光に近い分光のLED ■照度ムラ±5%以下 ■照度・色温度は4系統を切り替え ■BOX内奥にチャートを装着したり、立体物を配置することが可能 ■内部の照度センサーで照度の再調整ができる ■別売の照度計（LC-5LX）を使用すれば照度センサーの簡易校正も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高強度の紫外線を照射！ライン長さや幅などご要望に合わせた光源を提供
『ライン照射用LSシリーズ』は高強度の紫外線をライン上に照射する UV-LED光源です。 LEDは265.280.365.385.405nmのラインアップがあり複数波長を ミックスした光源も製作可能。 冷却方式(空冷、水冷)にご指定がある場合でも好適な設計の光源を 提供いたします。 【仕様(一部)】 ■外観 ・照射ヘッド：梨地白アルマイト ・コントローラ電源：板金塗装筐体 ■出力波長：365±5nm(ご要望により265、280、385、405nm等も製作可) ■紫外強度：初期600mW/cm2以上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
新しい紫外線応用製品の実現を可能にする軽量フレキシブル紫外線面光源をご紹介！
当資料では『UV-SHiPLA』の性能を活かした応用事例を掲載しております。 高速応答性を活かした「高速読取り装置」や「紙幣検査装置」への応用や、 UVB領域の弱い紫外光を照射することで抗菌物質の生成を促して、病害虫の 影響を低減する研究が行われるなど様々な事例をご紹介。 その他、分かりやすく図や写真も合わせてご覧いただけます。 ぜひご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■高い光エネルギー ■フレキシビリティ ■高速応答性 ■狭帯域 ･ 安定発光 ■波長バリエーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
UV応用製品の水銀フリー化に貢献！特注開発・設計も可能な紫外線光源！
『UV-SHiPLA CSシリーズ』は、水銀ランプを用いた既存UV応用製品を、 水銀フリーの環境対応型に改良できる水銀フリー紫外線光源です。 従来技術では実現できない薄型軽量・大面積照射などの新規製品開発向けに 好適です。 当社では、各波長域で高出力品の特注に対応いたします。 また、小型・計量で形状カスタマイズ可能なVUV光源である 「水銀フリー真空紫外面光源」もラインアップしております。 【特長】 ■発光面サイズ・形状 カスタマイズ可能 ■応用機器に合わせたモジュール化ができる ■既存製品を水銀フリー化 ■新規・独自製品のキーデバイスに役立つ ■被照射対象に好適設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
新しい紫外線応用製品の実現を可能にします！
当事例集は、軽量フレキシブル紫外線面光源である「UV-SHiPLA」の 応用事例をご紹介しています。 「UV-SHiPLA」の利用にぜひご活用ください。 【掲載事例(抜粋)】 ■高速応答性 ■狭帯域・安定発光 ■波長バリエーション ■応用開発向けサンプル ■強い殺菌力 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
200nm～430nm間の放射照度校正！積分時間は1m秒、1μ秒単位で調整可能
『HA-4000UVC』は、UV領域(200～430nm)を測定するように設計されている 分光放射計です。 SDK(ソフトウェア開発キット)によるプログラム制御が可能。 また、2048エレメントのリニアCCDアレイを内蔵し、ミリセックオーダーの 速度で紫外光のスペクトル、ピーク波長、ドミナント波長等を測定します。 【特長】 ■SDK(ソフトウェア開発キット)によるプログラム制御が可能 ■200nm～430nm 間の放射照度校正 ■校正証明書を付属 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
