更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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UV応用製品の水銀フリー化に貢献！特注開発・設計も可能な紫外線光源！
『UV-SHiPLA CSシリーズ』は、水銀ランプを用いた既存UV応用製品を、 水銀フリーの環境対応型に改良できる水銀フリー紫外線光源です。 従来技術では実現できない薄型軽量・大面積照射などの新規製品開発向けに 好適です。 当社では、各波長域で高出力品の特注に対応いたします。 また、小型・計量で形状カスタマイズ可能なVUV光源である 「水銀フリー真空紫外面光源」もラインアップしております。 【特長】 ■発光面サイズ・形状 カスタマイズ可能 ■応用機器に合わせたモジュール化ができる ■既存製品を水銀フリー化 ■新規・独自製品のキーデバイスに役立つ ■被照射対象に好適設計 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フィールド測定に特化したポータブル型の分光放射計。350～2500nmのUVから近赤外の波長範囲を1モデルで測定可能。
資源探査、植生分析など、リモートセンシング用途でのスペクトル測定に適した分光放射計です。バッテリーやタブレット、専用リュックなど豊富なアクセサリーがあり、持ち運びしやすく、現場での測定が容易です。 1,000種を超えるスペクトルライブラリを用意しており、ライブラリを購入することで撮影データを指定のライブラリと比較することができます。 ・1台でUV-VIS-NIR（紫外-可視-近赤外）の広い波長範囲の測定が可能。（350～2500nm) ・ソフトウェア内にスペクトルライブラリを内蔵 1,100を超える鉱物のライブラリ 2,600の既知のサンプルのライブラリ ・持ち運びしやすく、現場で使いやすい ・ピストルグリップ、タブレット等の豊富なオプション
新しい紫外線応用製品の実現を可能にします！
当事例集は、軽量フレキシブル紫外線面光源である「UV-SHiPLA」の 応用事例をご紹介しています。 「UV-SHiPLA」の利用にぜひご活用ください。 【掲載事例(抜粋)】 ■高速応答性 ■狭帯域・安定発光 ■波長バリエーション ■応用開発向けサンプル ■強い殺菌力 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【Johnson/Bessel】・【Kron/Cousins】の2種類
■Andover社は、UBVRIフィルタを標準品として提供している ■このフィルタは、天体から放出される光を除去したり特定のバンドを測定するのに使用されている ■Johnson/Bessel：光電子増倍管 ■Kron/Cousins：シリコンCCD
広帯域・高出力の近赤外線を放射。コンパクトで使いやすいASE光源
DAYY Photonics社の高性能光学エンジンとアンプモジュールを採用したコンパクト・広帯域・高出力のASE光源です。 独自のドライバーとコントローラーが搭載されており、操作や光出力の調整などを簡単に行うことが可能です。 光出力が高いため、SLD光源よりも高い出力が求められるアプケーションに最適です。
フルカラーも実現したLED光源！半導体から食品、電子看板まで広く需要開拓へ
インテックス社長 八木 穣のインタビュー記事を掲載している 『日本の製造業を支える中小企業 モノ＆ストーリー File.055』を配布中です。 インテックスでは、波長選択・加算・調整方式のLED光源により、 不仮の三原色であるRGB(赤・緑・青)のLED素子を使用し、フルカラーでの 照明を可能とするなど、多様で高効率なLED照明を実現させています。 【掲載内容】 ■高密度実装した 7 連のモジュール ■青を制御－“白色”でも感光しない光 ■防虫や商品をアピールする効果も ■他社と提携し、世界に事業を発展 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SLEDは応用範囲が広く、通信，医療，センシング，防衛などの分野で使用されておりますASEブロードバンドライトソースです。
【広帯域光源モジュール(ASE) 光通信波長帯】 ■高出力・高出力安定性・均一性の高いパワー密度 ■アナログ／デジタルモジュレーションに対応 ■カスタム相談可
車載用リアビューカメラや監視カメラ用。近紫外照明の計測に最適！！
近年「近赤外領域」測定の需要が多くなってまいりましたが、手軽に測定できる測定機がありませんでした。株式会社トプコンテクノハウスでは分光放射計のSRシリーズで培われた技術を基に「近赤外分光放射計 SR-NIR」を開発いたしました。視準（発光物の測定箇所を確認）しながら、車載リアビューカメラ照明用近赤外LEDの測定が可能です。分光放射計SRシリーズと併用していただくことにより、380nm～1030nmの分光放射輝度を測定することが可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
画像を分光スペクトル解析。 高解像度(500万画素)で高輝度分光測定(170憶cd/m2)が1nm毎におこなえます！
SR-5100は、従来の点測定の分光放射計と同等の性能を有した2D分光放射計です。 機器の校正には光のトレーサビリティのとれた光源を使用し、高精度な輝度・色度の精度保証を実現しました。 非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の分光透過率特性、物体の分光反射率特性など光源や物体の特性を500万で170億cd/m2を1nm毎に分光特性評価をおこなうことができ、多岐にわたる製品の品質を高く維持することに貢献する光計測機です。 【特長】 ￭ 高解像度500万画素(2448×2048)で高輝度分光測定(170億cd/m2)が可能です。 ￭ スポットタイプの分光放射計と同等の性能を有した２Ｄ分光放射計です。 ￭ 光のトレーサビリティのとれた光源を使用した校正により高精度な輝度・色度の精度保証を実現しました。 ￭ 分光とXYZフィルタの測定方式を搭載した各々の長所を生かした高精度と高速のコンバーチブルモデルです。 ￭ ソフトウェアを標準で付属しております。 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
