プローブテスタ×タカヤ株式会社 - メーカー・企業と製品の一覧

欧州電子業界雑誌「EPP」特集記事のご紹介

欧州電子業界雑誌「EPP」にタカヤフライングプローブテスタの特集記事を掲載いただきました。

2023年10月に発行されました欧州の電子業界雑誌「EPP」に、タカヤフライングプローブテスタの紹介記事を掲載頂きました。タカヤ株式会社および欧州代理店のシステック・ヨーロッパ社は、ドイツシーメンス社様と長年にわたるパートナーシップを結んでおります。シーメンス社様の世界フラッグシップ工場「SIEMENS Karlsruhe」では、現在12台のタカヤフライングプローブテスタが稼働しており、実装基板の信頼性を確保しています。 APT-1600FD-Aの両面同時検査、新ソフトウェアによる検査プログラムの自動セットアップ、自律型搬送システムAMR（Autonomous Mobile Robot）を用いた基板の自動搬送によって 5日/24時間の完全無人検査を実現されています。また、OPC UAなどの最新インターフェース規格に対応しており、MESシステムとの連携はもちろんのこと稼働率のモニタリング・不良統計に基づいた検査プログラム自動切り替え環境を構築されております。関連リンク、ダウンロードページより是非ご覧ください。

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低抵抗測定モード（0.1mΩ～）【開発中】

タカヤフライングプローブテスタのご紹介です。低抵抗（0.1mΩ～）の測定にチャレンジしています。

タカヤでは、お客様からのさらなるご要望にお応えするためフライングプローブテスタの印加パラメータを調整し、より低抵抗（0.1mΩ～）を測定できる独自モードの開発を進めております。＊分解能：0.001ｍΩ フライングプローブテスタは、手で測るタイプの低抵抗計と比較すると測定プローブから本体までの測定線が長い（5メートル程度）ため、外部ノイズの影響を考慮したマシン設計が必要ですが、我々は、この点において知見がございます。また、手でプローブを持って測る場合は、測定対象にプローブコンタクトする際の力加減・角度・位置が一定ではないため測定結果のばらつきが発生したり、対象物に与える打痕・ダメージが課題になる可能性がありますが、弊社のプローブシステムは、ダメージレスコンタクト・高精度コンタクトに定評がございます。手作業による測定の不確かさを払しょくしたい・測定に手間がかかりすぎているなど、お困りごとがありましたら是非お声掛けください。テストトライから喜んでお受けいたします。

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フライングプローブテスタ APT-2400F

高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献！

APT-2400F は、高密度実装基板の検査に対応できる業界最高クラスのプロービング精度を誇りつつ、独自の制御機構・センシング技術により、あらゆる環境下で信頼性の高い電気検査を実現する、次世代のフライングプローブテスタです。岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-2600FD

基板製造に新たな革新。生産効率と検査精度の向上を実現！

APT-2600FD は上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査が行える次世代のデュアルサイドフライングプローブテスタです。テストカバレッジ向上と共に、基板反転動作による製品破損リスクを軽減し、検査時間も大幅に短縮します。高機能な測定システムと多彩な機能を備え、試作から量産までの品質向上に貢献します。岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストを承ります。検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。

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フライングプローブテスタ APT-2400F / 2600FD

【第39回ネプコンジャパン国内初出展】高密度実装基板の検査に対応、業界最高クラスの精度！フライングプローブテスタの新モデル

タカヤ株式会社は、超高速検査で実装基板の様々な不良を確実に検出するフライングプローブテスタの新モデル「APT-2400F/APT-2600FDシリーズ」を発表します。微細な部品配置や接続を高精度にチェックできる最先端クラスの検査技術を搭載し、わずかな不良やリスクも見逃さず、製品の品質向上を強力にサポートします。また、当社独自の制御機構とセンシング技術により、変動しやすい環境下でも信頼性の高い検査を実現し、リコールリスクの低減といった品質管理への貢献が期待できます。さらに、誰でも直感的に操作できるユーザーフレンドリーなインターフェースを採用、特に労働力不足が深刻化する現場において負担軽減を図りながらも高い検査精度を確保でき、生産性の向上に寄与します。 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

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ICのリード浮き、BGAのボール浮きを電気的に検出しませんか？

TAKAYA独自のICオープンテストシステム

※詳細機能はカタログにてご覧いただけます※ TAKAYAのフライングプローブテスタには、独自開発のセンサプローブを用いて、 BGA, QFP, SOJなどのICリード浮き不良、ハンダ不良を高速検出するシステムを搭載できます。 IC本体にダメージを与えることなく、狭ピッチICのリード浮き不良や、BGAのボール浮き不良を電気的に検出が可能です。トライアル/テストも相談賜ります。お困りごとがありましたら是非、お気軽にお問合せ下さい。 ※詳細情報はカタログにてご覧いただけます※

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欧州業界紙 PRODUCTRONIC にて紹介いただきました！！

46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数！！世界で高評価を得ているタカヤのフライングプローブテスタです。

欧州で発行されている実装業界の情報誌「PRODUCTRONIC 2021」2月号に、大手センサーメーカーでの弊社テスタ導入記事を掲載いただきました。こちらのメーカーでは、年間約1,000万枚のプリント基板と8億個の部品を取り扱っており、タカヤのフライングプローブテスタを約20年前からご使用いただいています。今回は、最新モデルのAPT-1600FDシリーズを導入いただいた際のコメントです。基板実装工程の後に直接でインサーキットテストを実施されており、エラーを非常に早く、確実に検出することができる点、また、開発中にアセンブリの内容が変更されても、プログラムの修正だけで簡単に検査を変更することができる点で高評価を頂きました。治具作成が不要になることで費用対効果も高まるとともに、治具式テスタ使用時にに比べて、約2～2.5倍の検査速度を実現されたとのことです。日本のみならず、世界各国のあらゆる企業・業界で認められたタカヤのフライングプローブテスタを是非、ご活用ください。＊詳細情報は、下記関連リンクページをご覧ください。

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世界で認められるタカヤのフライングプローブテスタ。その理由は？

世界46か国以上の国々でグローバルEMS企業やメーカーに導入多数！！その理由についてご説明します。

ノウハウ 1987年に、タカヤ株式会社は世界で初めてフライングプローブ・テストシステムを発表しました。この革新的なシステムによって、エレクトロニクス産業のほぼ全分野において、電気検査（インサーキットテスト）の手法を根本から変えました。少量試作から量産まで、様々な基板の検査を高精度かつ低コストで行える仕組みを確立しています。イノベーションタカヤは、高品質・技術革新・柔軟性に重点を置いた検査システムを一貫して開発し続けてきました。現在でも、さらなる検査領域の拡大・検査スピード短縮を目指し、日々新システムの開発に精力的に取り組んでおります。信頼性タカヤのテスタは、高い品質管理基準のもとすべて日本国内で製造しています。装置本体の長期間にわたる精度維持・安定性は、エレクトロニクス産業のあらゆる分野のお客様から高く評価されています。充実したサポート設置工事やオペレータへのトレーニング・定期メンテナンス・校正・検査プログラム作成のサポートなど、熟練のサービスマンが対応します。回路基板検査のスペシャリストとして、エレクトロニクス業界のお客様のパートナーでありたいと考えています。

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インサーキットテスト最速！フライングプローブテスタの導入効果

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。その導入効果を紹介します。

■ 品質の向上外観検査やファンクション検査では検出が難しい不良を検出し、テスト結果と集計データから実装工程全体の品質を改善できます。微小チップ部品やファインピッチIC/コネクタにもピンコンタクト可能ですので、高密度基板の検査でも、治具検査に比べて検出率が大幅に向上します。 ■ 検査コスト削減高額な専用検査治具を必要とせず、試作基板や少量/中量生産基板において大幅に検査コストを削減します。設計変更があった際にも、治具の改造費用は不要です。 ■ 不良解析時間の短縮不良箇所が特定できるため（基板画像に不良箇所を表示）、不良解析や部品交換作業が容易になり、修理時間を大幅に短縮します。 ■ トレーサビリティ管理部品の測定値や検査日時などを基板検査毎に保存し、品質管理の資料として手軽に検索や編集ができます。 ■ ライン稼働時間の短縮量産開始までの待ち時間を大幅に短縮し、実装工程の稼働率を向上します。LCRメーター測定や目視検査によるオペレーターの負担を軽減し、ヒューマンエラーを排除します。より詳しい情報については営業担当までお問い合わせください。

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旧モデルからの更新/増設も安心！検査プログラム自動コンバート

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

APT-7400CJなど、タカヤフライングプローブテスタの旧モデルをお使いのお客様、ぜひ最新のAPT-1340Jへ更新/増設をご検討ください。旧モデルでご使用されている検査プログラムをそのまま最新モデルへコンバート可能ですので、プログラムの作り直しや再調整などの手間はありません。また、最新モデルでは駆動モーター・制御系を一新、プローブの移動速度は旧モデルの1.5倍にアップしており、検査時間の大幅な短縮が見込めます。実際に、APT-7400CJでは基板一枚の検査に33秒かかっていたプログラムが、APT-1340Jへのコンバートで一枚当たり19秒と、約40％短縮できた事例がございます。手間をかけることなく検査キャパのアップ/効率改善が見込めますので、更新/増設をご検討のお客様は是非、営業担当までお問い合わせください。

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検査結果を自動的に収集/解析！！統計機能を標準搭載

タカヤAPTシリーズは、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置です。

タカヤのフライングプローブテスタ「APTシリーズ」には、検査結果を自動的に収集し、解析する『統計機能』を標準搭載しています。【主な機能】〇検査種類　　検査種類ごとにステップ数をカウント、割合をグラフ表示〇不良分析　検査ステップ毎に不良内容/不良数を集計〇検査解析　解析結果をヒストグラム等のグラフで視覚的に表示〇検査集計　日付毎の合計数・良品数・不良数・不良率を累計表示〇検査レポート　解析結果を自動まとめ、Excel形式で出力検査プログラムの見直し・効率化や、実装工程へのフィードバック、効率向上に効果を発揮します。詳細については営業担当までお問い合わせください。

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【導入事例】初回確認、ライン切り替え時の確認検査

両面テープを貼付した試し打ち基板や、実装スタート直後の実装基板初回検査を自動化できます

プリント基板の部品実装工程において、機種切り替え時のマウンタ装置における部品セット間違い/実装プログラム間違いによるミスは、発見が遅れるとロット単位での不良（ロットアウト）となり、大損失につながります。この様なミスを防ぐために、両面テープを貼ったベアボードの上に部品を仮実装し、一つ一つをLCRメータで測定/目視照合検査をされるケースがあります。この検査は「一号機チェック」「段取り替えチェック」「試し打ち検査」と呼ばれますが、検査が終わるまではライン停止させなければならず時間がかかるため、ライン稼働率が下がる要因となってしまいます。また、高密度に実装された基板上で、細かい部品をすべて手作業確認する場合、人的ミスを完全に無くすことは難しいです。弊社では、この作業をより簡単かつ楽に行っていただける方法として、フライングプローブテスタによる自動検査をおすすめしております。ライン切り替え後の確認作業を正確かつ短時間に行うことが可能です。実装機の切り替え時間短縮による稼働率向上・人件費の削減・不良品発生リスク低減を考えられているお客様はぜひ導入をご検討ください。

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【導入事例】挿入実装基板（ディスクリート部品）の電気検査

誰でも簡単に基板の不良個所を特定！！

プリント基板実装には、プリント基板の表面にはんだ付けを行う「表面実装（ SMT : Surface Mount Technology）」と、プリント基板の穴（スルーホール）に電極リード端子を挿入し、はんだ付けを行う「挿入実装（ IMT : Insertion Mount Technology）」があります。タカヤのフライングプローブテスタは、挿入実装基板の検査も得意です。サイズの大きいディスクリート部品の場合、手実装→目視検査になりますため、ばらつき・検査ミスを起こす可能性がございますが、フライングプローブテスタを使うことで、ミスなく検査できるとともに、確実なトレーサビリティを残せます。電源ラインなどに関わる大型サイズの手挿入部品など、AOI(画像検査）では検出困難な誤配・ブリッジ・ショート・極性を電気的に検査し、電源通電時の部品破壊・基板破壊を未然に防ぎ、廃棄基板の発生を削減します。近年では、基板の小型化・高密度化が進んでいるため　表面実装が主流になっていますが、挿入実装で製造される基板もまだまだたくさんあるかと思います。検査でお困りの際は是非お声掛けください。

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【展示会】第37回ネプコンジャパン出展製品のご紹介

【出展パネル公開】超高速検査で実装基板の不良を検出するフライングプローブテスタ（基板検査装置）・業務改革に貢献するRFID製品

2023年1月25日（水）～27日（金）に　東京ビッグサイトで開催されました「第37回　インターネプコンジャパン」にて、弊社ブースにお越しいただいた皆様、ありがとうございました。今回出展製品の資料・展示パネルを公開しております。期間中会場にお越しいただけなかった方も、当ページより登録いただければ資料を閲覧頂けますので是非、ご活用ください。今回、産業機器事業部ではアンドールシステムサポート株式会社様の共同で、フライングプローブテスタによるバウンダリスキャンテストのデモを実施したこともあり、大変多くのお客様にご興味を持っていただくことができたことを嬉しく思っております。また、今回が初となる産業機器事業部・RF事業部のコラボ出展で、たくさんの方々に弊社製品を知っていただけたのではないかと思います。今後もタカヤ株式会社はお客様のご期待に応えられるよう、精一杯努力してまいります。これからもご愛顧賜りますよう何卒よろしくお願い申し上げます。

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フライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承ります

最大30kgの大型重量基板を自動搬送できるオリジナルのユニットを製作。特殊仕様の製作もお任せください。

タカヤでは、お客様の多様なニーズにお応えするためフライングプローブテスタの特殊カスタム対応も承っております。一例ですが「最大30kgの大型・重量基板を自動搬送したい」というご要望にお応えするため専用の自動搬送ユニットを製作致しました。人力では持ち運び困難な非常に重たい基板も安全・正確にハンドリング頂けます。また、インサーキットテストと並行して特殊な検査を行うためテスタ本体内に特殊検査装置を納めるスペースを設けるなど、柔軟なカスタマイズを行うことが可能です。標準規格に収まらないような特殊製品の検査でも、カスタム対応で解決させていただきます。まずは一度、営業担当までご相談ください。

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