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アナログ・フロントエンドは500μV/divの入力感度を実現します。
R&S RTE は、あらゆる測定用途で効果を発揮するオシロスコープです。 作業効率を向上させる充実した測定機能と、満足のいく測定結果を得られる確かな性能を備えた R&S RTE が、日常の測定業務に劇的な変革をもたらします。 帯域モデルは200MHzから2GHzまでをご用意、アナログ・フロントエンドは500μV/divの入力感度を実現します。 【特徴】 ○サンプリングレートは5Gサンプル/秒、 1チャネルあたり最大200Mメモリで拡張可能で詳細な解析を可能にする ○波形更新スピード100万回/秒を誇る ○発生頻度の低い信号も確実に捕らえる 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
デッドタイムが発生する原因と、高速波形更新レートの重要性について解説。
全てのデジタル・オシロスコープにはデッドタイムがあります。このため、 デッドタイム内に生じる製品からの不具合信号を捕捉できない場合があります。 このように、測定におけるデッドタイムを把握することは、デバッグに おいては非常に重要です。 当アプリケーション・ノートでは、デッドタイムが発生する原因と、 高速波形更新レートの重要性について解説します。 併せて、R&SRTO オシロスコープの新機能によるデバッグ作業の 効率化についてもご紹介します。 【掲載内容(抜粋)】 ■デッドタイムとは？ ・デジタル・オシロスコープのアーキテクチャ ・デッドタイム- デジタル・オシロスコープの特性 ■デッドタイムの影響とは? ・見えない不具合波形 ・デッドタイムが測定に与える影響 ・稀な不具合信号に対するテスト時間 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
